- みんなの回答 （4）
- 専門家の回答
みんなの回答
- kenojisan
- ベストアンサー率59% (117/196)
Ｘ線回折の教科書では、試料の結晶格子面が平行に書かれていて、格子面に対して入射角と反射角が等しい鏡面反射の図で説明されていますよね。 こういう理想的な配置で鏡面反射測定をするだけなら、ωとθの区別は不要です。 また、逆に完全な多結晶試料（無配向の粉末試料など）の場合にも、そもそもωの定義も出来ないので区別を考える必要は有りません。 問題は、配向性が有る試料や鏡面反射以外の測定をする場合です。θは、通常、入射Ｘ線とカウンター（つまり、反射Ｘ線）が成す角を2θとして定義した角（いわゆる回折角）です。一方、ωは原点角を基準にした試料の回転角です。 試料をＸ線回折装置にマウントする場合、通常は誤差のない理想的な面出しは無理ですし、また見かけ上の試料面に対して実際の格子面が傾いていることも有りますので、良く行われるθ-2θの鏡面反射測定でも、厳密にはθ=ωとはなっていません。こういう場合には、カウンター角＝2θを有る回折ピーク位置に固定しておいて、ωだけをスキャンするような測定を行い、実験的にθ=ωとなるオフセット角を見つけ出します。 また、単結晶試料などでは、試料の外形面に対して傾いた格子面の測定をすることもあります。この場合には、θとωは全く違った角度になります。さらに、このような単結晶試料を正確に測定するのには、試料を自由な方向に回転させて測定できる、４軸ゴニオメーターと呼ばれる試料ステージを使いますが、こうなるともう、回折角を定義したθと試料回転角の一つであるωは独立な物になります。
- akatoa
- ベストアンサー率16% (1/6)
θは試料に対するＸ線の入射角、ωは試料側の回転角です。どちらも同じ平面上の角度ですが、定義上、実用的にはθを動かすとＸ線を出す側が、ωを動かすと試料側が動く場合が多いです。
よく見たら、ωは入射角、θは出射角、ですね。
http://www.nsg-ntr.com/DATA/data1.htm を見ると、θは入射角、ωは出射角、らしい。
関連するQ&A
- XRDにおける波長の違い
XRDについて教えてください。 普段用いているXRDではθ-2θ法、線源CuKα(波長λ=1.54056Å)で測定しています。一方、精密測定のためにS/N比の高い高性能なXRD装置を用いて、上記のXRDで測定した試料と同一の試料を波長λ=0.7000Åで設定して測定しました。 当然ながら、設定した波長λが異なるので、λ=1.54056→λ=0.7000となったことで、プロファイルは全体的に左へシフトしました。この左へシフトした分を理論的に正確に右にシフトさせる、つまり、波長をλ=1.54056として測定してえられた回折プロファイルに変換することは可能でしょうか。回答よろしくお願いします。 （このようなことを望む理由は、λ=0.7000で得たXRDパターンと数多く存在する様々な作成条件で得られた試料のXRDパターン(λ=1.54056で測定)とを比較し、違いを見てみたいからです。）
- 締切済み
- 物理学
- XRDの原理について
こんにちは。私は材料化学を専攻する学生です。 この度、材料として用いる高分子の構造を理解するためにXRD測定を行うことになりました。しかし、これまで取り扱ったことがなく何から勉強すればよいのかわかりません。 もしよろしければ、XRDの原理などがわかりやすく書かれている参考書、もしくはwebサイトを教えていただけないでしょうか？ よろしくお願いたします。
- 締切済み
- 化学
- FT-IR と XRD の違い
こんにちは。 いつもお世話になっています。 無知なので、変な事いっていたら指摘して下さい。 FT-IRとXRDの違いは何でしょう？ FT-IRは表面の構成物質の特定で、XRDは表面の組成の特定でいいのでしょうか？ Tiをアルカリ処理した物を両方で見たところ、XRDでは表面がTiとなっており(もしかしたら測定ミスかもしれませんが。)、FT-IRでは何かのピークがでてきました。たぶんOとかだと思うのですが。 この様に、XRDではでてこなかったものがFT-IRで出てくる事ってありますか？（表面の測定できる厚さとか？）それともただの私の測定の仕方が悪いのでしょうか。 わからず今パニックになってしまったので質問させて頂きました。 沢山質問書きましたが、わかる部分だけでもいいので、よければご教授お願いします。
- ベストアンサー
- 物理学
- XRDでピークが観測されません
反射型のXRDを用いて粉末のXRD測定をしたのですが、ピークが得られませんでした。ちなみにサンプルはもともと石のような固体だったものを粉末に粉砕して測りました。 固体のときは結晶構造を示していても、粉末になったら結晶構造を示さなくなることってあるのでしょうか？今回は砂ぐらいの粗さにしかしていないので結晶構造がなくなることはないと思うのですが・・・。 このことについてどなたかの意見をいただきたいです。よろしくお願いします。
- ベストアンサー
- 化学
- 複数のXRD測定結果を１つのグラフにまとめる方法
条件を変えたいくつかの試料のXRDの結果を、添付図のような１つのグラフにまとめたいです。複数の測定結果を１つのグラフ内にまとめる方法は知っているのですが、添付図のように条件ごとにグラフを縦にずらす方法や縦軸が目盛り無しのグラフを作る方法が分かりません。私はまだExcelなどをうまく使いこなせていないので、出来るだけ丁寧に手順を教えてくださると有り難いです。 どなたかよろしくお願いします。
- ベストアンサー
- 物理学
- XRDの測定について
最近XRD（X線回折）の測定を勉強し始めた初心者です。 薄膜を測っているのですが まだ品質のいい膜が出来ておらず、結晶性が悪いです。 なので、ピークが弱いです。 ω-２θスキャンで、 低い指数のものはなんとか読み取れるまで回折強度があるのですが、 高指数側のピークは、ノイズやらバックグラウンドと区別がつきません。 それでピークを見るために、ノイズをなるべく無くしたいと 考えているのですが、知識＋経験が少なく、 どうしたらいいかよくわかりません。 使っている装置は、PhilipsのX'pertです。 教えてほしいのは、 (1)ノイズの発生理由として通常考えられること (2)ノイズを低減させる方法 (3)弱いピークの見つけ方、出し方 です。 一応の方策として、 ステップごとのX線の照射時間を長くして、 ノイズを平均化すれば、積算で、ピークが出るのかな と考えていますが、 （１）XRD装置の予約が混んでいてなかなか使えない。 （２）測定結果を出さなければならない期限が迫っている。 などの事情から なかなかゆっくり考えたり、色々試している暇もありません。 誰か知っている方いたら教えてください。お願いします。
- 締切済み
- 物理学
