- ベストアンサー
XRDについて
- みんなの回答 （2）
- 専門家の回答
質問者が選んだベストアンサー
- ベストアンサー
＞どのピークがどの面をみているのかとかってどうやって知るのですか 角度は．原子間距離しか示しませんので．直接どの面かを知ることは出来ません。複数のピークの組み合わせから．いくつかの原子間距離（面間距離）がわかり．この中の一つを結晶Ｘ線回折でどの面かを特定して．作成されたのがＡＳＴＭカード（現在は別の名称になっているはず）です。粉末法ではわからないことはないのですが（説明を聞いたが忘却）省略します。ＡＳＴＭカードの内容が多くの場合に回折装置のコンピューターに記憶されていますので．ぶしつ名が特定できれば面の番号がわかります。 ＞縦軸の『強さ』から何が分かるのでしょうか？ 結晶法の場合には．結晶の向きがわかります。 粉末法の場合には． 各ピークの大きさの割合がカードの大きさと異なっていた場合（精度計算をサボらないでしてください。さもなくば．ｎを無限大に発散しているとみなせる（計量統計処理が使用可能になる）ような十分な数を計数してください）にはいこうがあるわけで．粉末資料の作り方が悪かったことがわかります。逆に粉砕しないで直接測っているような場合（圧延鉄板をそのまま等）の場合には資料の製法から粒子のはいこう性がわかります。 （人名忘却）分布のピークになるはずですから．形に歪みが合った場合には複数のピークが重なっていることが見当つきます。 ピークの形状が緩やかであった場合は留径が小さいことが．逆に鋭い場合には結晶がきれいな大きな状態にある事が分かります。
その他の回答 (1)
- tomtomtomtom
- ベストアンサー率20% (7/35)
こんばんわ。 ピークがどの結晶面をあらわしているのか・・・ これは、専用のデータベースがあります。 最近はパソコンと接続されてる形態のものが普通なので、 データベースもパソコンから取り出せます。
お礼
専用のデータベースがあるのですか。 どうもありがとうございました
関連するQ&A
- (1)XRDの原理 (2)各ピークのミラー指数
前提として、私は固体物理学や結晶学が苦手だということをお伝えさせていただきます。 まず、XRDはX線を（粉末）試料に当てた時の回折現象を測定していて、ブラッグの式 2dsinθ=nλに当てはまる回折X線がピークとして観測されている、と私は把握しています。 (1)この時観測されるピークは、基本的にn=1の時のものだけだと伺いました。なぜn=2,3,・・・のピークは観測されないのでしょうか。難しいことは理解できないかもしれないので、簡単で結構です。 また、私は昨日ある固体試料に対してXRD測定を行いました。いくつかのピークが観測され、文献を用いてそれぞれのピークを「(001),(003),(005)・・・」と同定しました。この(001)等は固体試料の単位格子に対するミラー指数であり、それぞれのピークが観測される2θの値から、ミラー指数が示す方向の「層間距離d？」を求めました。。 (2)(001)ピークから求めるdは単位格子のz軸（深さ）方向の長さでしょうか？そもそも、(003)や(005)が示す面はどこを示しているのでしょうか？また、それぞれのピークから求めたd値は何を表しているのでしょうか？ (3)その他、ソフトウェアを使わずに、XRDスペクトルから簡単に読み取れる情報はなにかあるでしょうか？今回私が行った測定は、ある固体試料のXRDと、その固体を担体として金属を担持させた試料の２種以上のXRDを測定して、スペクトルを比較し、金属の担持具合を予想しようというものでした。 一部だけでもよいので、ぜひ回答をいただきたいです。理解が浅く、ちぐはぐな質問になっていると思いますが、よろしくお願い致します。
- 締切済み
- 化学
- XRDの回折強度が弱い理由について
CoSb3のナノ粒子の作製を試みているんですが、 XRDでできたかどうかみようとしても、 回折強度が一番大きなピークでも400もなく、 その他のピークとぶれ(?)を識別しにくい状態です。 一番大きなピークで400というの小さいのでしょうか？ ピークが小さくなってしまうのはなぜですか？ どうしたらよいのでしょう？
- ベストアンサー
- 化学
- XRDの測定について
最近XRD（X線回折）の測定を勉強し始めた初心者です。 薄膜を測っているのですが まだ品質のいい膜が出来ておらず、結晶性が悪いです。 なので、ピークが弱いです。 ω-２θスキャンで、 低い指数のものはなんとか読み取れるまで回折強度があるのですが、 高指数側のピークは、ノイズやらバックグラウンドと区別がつきません。 それでピークを見るために、ノイズをなるべく無くしたいと 考えているのですが、知識＋経験が少なく、 どうしたらいいかよくわかりません。 使っている装置は、PhilipsのX'pertです。 教えてほしいのは、 (1)ノイズの発生理由として通常考えられること (2)ノイズを低減させる方法 (3)弱いピークの見つけ方、出し方 です。 一応の方策として、 ステップごとのX線の照射時間を長くして、 ノイズを平均化すれば、積算で、ピークが出るのかな と考えていますが、 （１）XRD装置の予約が混んでいてなかなか使えない。 （２）測定結果を出さなければならない期限が迫っている。 などの事情から なかなかゆっくり考えたり、色々試している暇もありません。 誰か知っている方いたら教えてください。お願いします。
- 締切済み
- 物理学
- ＸＲＤデータのピークの分離について
こんにちは。 ＸＲＤデータのピークの分離について教えて下さい。 高温相の立方相だとピークは分離しないのに、低温相の斜方相では同じ面指数のピークが分離してしまいます。これは何故でしょうか？ 分離して別の面指数のピークになるのでしょうか？ 同じだとすれば格子定数を求めるときにどちらのピークを用いればいいのでしょうか？ 少しでもかまいませんのでご存知の方、よろしくお願いいたします。
- ベストアンサー
- 化学
- メソポーラスシリカの低角XRDについて
大学でケイ素材料の合成を行っているものです。 メソポーラスシリカを低角（0.2～7°）XRDで測定すると 2θ=1.8°の100面に帰属するピークが強く出ます。 メソポーラスシリカはp6mmの六方晶系を取るといわれています。 100面の他にも、110,200,210に帰属するピークがでます。 その中で、なぜ100面のピークが強く出るのでしょうか？ ご教授願います
- 締切済み
- 化学
- XRDの結果から何が分かった言えるのでしょうか
XRDによって現れるピーク位置は、その角度の時にブラッグ条件2d sinθ=nλ を満たす結晶だという事ですか？ 例えばθ-2θ法で測定して2θ＝40°の位置で鋭いピークが現れた場合は、θ＝20°でブラッグ条件を満たす並びのグレインの数が多い多結晶ということですか？ つまりピークの数が多過ぎたり全体的にノイズのようになってるのは配向が不均一過ぎるので非晶質固体、逆に鋭いピークが１つだけのは単結晶という事が言えるのでしょうか。 またどうしてXRDの結果から結晶の面指数(hkl)が決定できるのか教えて欲しいです。しかも数種類の物質を混ぜて出来た固体ではそのピークがどの物質によるピークなのかまで分かってしまう原理がどうしても理解出来ません。 どなたか詳しくお願いします。
- ベストアンサー
- 化学
- X線分光分析（XRD)の原理
X線分光分析の原理について教えてください。 ブラッグの式の原理を使用していると思うのですが、そのあたりから詳しく教えてください。 XRDではX線の入射角度を変化させて横軸が２θで縦軸に強度をとったグラフが得られると思いますがこの強度が強い程どうなるのですか？ また、角度を変化させる意味についても教えてくれるとありがたいです。 お願いします。
- ベストアンサー
- 物理学
お礼
本当に御丁寧な説明、本当にありがとうございました！ 助かります！