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※ ChatGPTを利用し、要約された質問です(原文:半導体パッケージのモールド欠けについて)

半導体パッケージのモールド欠けについて

このQ&Aのポイント
  • 半導体パッケージのモールドが欠けるという不具合に遭遇しております。モールド欠けの原因は判明したのですが、検査工程で選別する為の基準が分からずにおります。
  • JEDEC等の規格でモールド欠けの基準に関する番号をご存知でしたらご教示頂けませんでしょうか?
  • 初めてご質問させて頂きますが、半導体のパッケージについて勉強しております。

質問者が選んだベストアンサー

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noname#230359
noname#230359
回答No.1

JEDECの規格はわかりませんが、大手の半導体メーカーでも、規格はまちまちのようです。 昔は、機能に問題ない範囲はOK→見た目(現在)のように厳しくなってきたと認識しています。 蛇足ですが、 また、現在はパッケージが薄く当然中のチップも薄くなっています。 パッケージに問題がなくてもチップにクラックが入ることもあります。 パッケージが欠けるような外力が加わる工程があるのであれば、チップクラックについても考慮した方が安全と思われます。

noname#230358
質問者

お礼

早速のご回答ありがとうございました。 規格はまちまちなのですね。。 ご存知であれば、JEDEC以外の規格でもよろしいので、 ご教示頂けますと幸いです。 私も極薄パッケージ等ですとSi基板や裏面研磨などで薄くしていますので、 ご指摘の通りチップクラック又はチップチッピングを懸念しております。 発生対策は実施済みの様なので、造りこみ品質としてはOKだと思うのですが、 流出対策についても指摘されており、質問をさせて頂きました経緯がございました。

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