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光半導体の信頼性について
noname#230359の回答
![noname#230359](https://gazo.okwave.jp/okwave/images/contents/av_nophoto_60_3.gif)
フォトカプラの方が条件を限定しやすいので例にとりますと、長期的に見て一番影響を受けるのがCTR値と思います。 但しこの変化は周囲温度の影響が大きく温度により10,000100,000時間で60%といったオーダーが一般的です。 従ってこの値と使用方法(時間)、周囲温度、製品のライフサイクル(寿命)を考慮して決めるしかありません。 後は、CTRのバラツキ、Vfのバラツキ(経時変化は殆ど無し)、不測の事態による安全率を見こんで、流せる電流(最大値側)を決定します。 最小値側は上記の項目に受け側回路の余裕(例:スレシホールド電圧)やIceo値の 変化が加わります。 いずれもスタティック動作の場合はメーカー公表のtyp値が基準、発光ダイオードのダイナミック動作の場合は、ダイナミック時の許容最大電流及び最少duty値(絶対最大値でなく)を基準にして低減させていきます。 お話ですと電流が低いと発光が劣化した場合の影響が大きいとの事ですが、これは使用している回路の安全率の問題であって、私の経験では電流を多く流した場合のほうが劣化の度合い(変化)が大きいと考えております。 又、CTR(又は発光効率)の経時変化は確実に進行しますし、オプト関係は製造時に起因する劣化(実は一種の不良)も多いので出来るだけ安全率を見こんだほうが良いです。(過去にいろいろ失敗や痛い目にあった為)
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