• ベストアンサー

平均自由行程って

電子分光法について学んでいて、いきなり平均自由行程っていう言葉が出てきて戸惑ってしまったのですが、これは、いったいどういうものなんでしょうか? 電子分光法が表面分析法であるといわれる所以のように書いてありました。 手近に試料がなくて困っているのですが…。

  • 化学
  • 回答数1
  • ありがとう数3

質問者が選んだベストアンサー

  • ベストアンサー
  • sasaki-u
  • ベストアンサー率20% (3/15)
回答No.1

原子を大きさのある球として考えて、他の原子にぶつかるまでの1回の間に進む距離です 簡単な説明ですみません

関連するQ&A

  • 平均自由行程とそのエネルギー依存

     kazuorukといいます。 表面科学で、電子の平均自由行程のエネルギー依存に ついて調べてます。 運動エネルギーが約40eVを境に以下は平均自由行程値が大きく増加し、以上は緩やかに増加しますが、どうして、エネルギーが小さいほど平均自由行程値は高くなるのですか。

  • 平均自由行程について

    平均自由行程の式の求め方がわかりません。特になぜ√2が出てくるのかがわかりません。どのようにすれば求めることができますか? ちなみに最後は平均自由行程λ=kT/√2πpd(2乗)です。

  • 平均自由行程について

    質問させてください。 平均自由行程についてなのですが、 圧力P[Pa]、温度T[K]および分子の直径D[m]とした場合、平均自由行程λ[m]は次式で表せるとありました。 λ=3.11×10^-24T / PD^2 これによると、平均自由行程λは分子の直径Dに反比例すると表され、 分子と分子が衝突するまでの距離は、直径の小さい方が衝突するまでの距離が短い と思いますので、納得出来ました。 しかし、某フリーの百科事典に 平均自由行程は気体分子の直径をDとすると平均自由行程はDに比例する。 と記載されていました。 今取り組んでいる問題集でも平均自由行程は分子の半径に比例するとなっています。 どちらが正しいのでしょうか? 回答宜しくお願いします。

  • 古典的に平均自由行程を求めてみたのですが・・・・

    銅の中の伝導電子の平均自由行程を古典的に求めてみました。 考え方は、伝導電子の密度をnとし、銅の中の電子の進む方向に沿って半径rの円を考え、その中に平均一個の銅イオン原子心が含まれるように円柱の長さhをとることで、平均自由行程はhと同じだから h=1/(nπr^2) という具合です。銅イオンの半径が0.96×10^(-10)として計算してみると4.07×10^(-10)という結果になりました。 ところで、量子論的な考えに従って求めたサイトを発見し、そこで得られていた値は私が求めた値の約100倍の大きさでした。 なぜ古典論的な考え方で解くとここまで大きく値が食い違ってしまうのでしょうか。うまく人に説明できません。 教えてください。

  • 平均自由行程

    平均自由行程の求め方がよくわかりません。 調べてみたのですが、求め方がいくつもあって何が何だか。 それと、 1/4√2σn kT/σP   は何を求める式なのでしょうか。

  • 電子の平均自由行程の計算方法

    気体プラズマ中で,あるエネルギー[eV]をもった電子の平均自由行程はどのように計算できるのでしょうか?

  • 平均自由行程に関する問題です。

    平均自由行程に関する問題です。 困っているんで教えてください。 Ar 1[Pa]中にて平均自由行程が0.005[m]の物質 が0.2[m]先まで一度も衝突せずに到達する確率。 速度のマクスウェル分布が関係するのかなと 思いつつ「これだ!」的な物が浮かびません。 ちなみに真空夏期大学のテキストの演習問題の 一つです。 宜しくお願いします。

  • XPSとAESどのような場合にどちらが適しているのですか?

    XPS(X線光電子分光法)とAES(オージェ電子分光法)がどのような場合、どちらを用いればいいのかが良く分かりません。 XPSとAESの原理は本で勉強したのですが、この2つ徹底的に比較していないので表面を分析するならどちらでもいいのかと思うのですがどうもそうでもないようなのです。 深さ方向の分析にどちらが適しているなどがあるのでしょうか?

  • タンパク質などの生体試料の化学分析依頼を受けてくれるところ

    タンパク質など、生体試料の分析実績のある企業や機関を教えてください。 主な分析内容は IR や UV などの分光法を考えています。 よろしくお願いします。

  • XPSの精度について

    XPSで金属試料を測定しているときに 例えば20回同じ条件で測定してその平均を取る場合で、 時々、明らかに違う強度のバックグラウンドとピーク高さがでる時があります。 これは高くなるときもあり、また低くなるときもあります。 これじゃ平均するにしてもばらつきが出てしまいますよね・・。 これはX線を試料に当てていても、 同じ時間間隔で光電子が放出されていないということでしょうか。 また測定しているうちに試料に気体分子が吸着してIMFP(光電子の非弾性衝突を意味する平均自由行程)が変化することがあるのでしょうか。 それとも私が扱っている機器に何らかの支障があるのか・・・・。 X線源の配線が一本切れやすくなっているのもあります。。 (切れるたびにハンダで修理してます) アドバイスを戴けたら幸いです。