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抵抗の熱雑音の測定実験で謎のピークが出たり、雑音レベルが思い通りに変化しない理由がわかりません。

shippo_ppkの回答

回答No.8

No.5です。 (1)抵抗値を大きくしたときにノイズも本当に大きくなるのか。 抵抗値が小さい場合には、測定器のノイズに埋もれてしまいます。 抵抗値が大きい場合には、入力容量等の容量によりフィルターされてしまいます。 上記以外の範囲(測定環境による)の抵抗値であれば、ノイズの増加は測定できます。 (2)そのときのノイズ電力の理論値はP=4kTR/50で良いのか。 ノイズ電力のスペクトルという意味だとすれば合っていると思います。しかし、後で述べた(d)の問題があります。 (3)そもそも熱雑音の測定は可能であるのか? その環境では分かりませんが、可能です。NF SA-220F5の入力換算雑音電圧密度を見ると、0.5nV/√Hzなので雑音抵抗に換算すれば15Ω程度ですから、プリアンプの性能は問題ないでしょう。と言うか凄い性能だと思います。 (4)プリアンプの入力インピーダンスは何Ωであったのか。 憶えてません。初段はJ-FETのソースフォロワにしました。 以下は、記憶の中のアドバイスとノウハウです。それぞれの理由を十分には記述してられないでの、ポイントだけ。 (a)測定周波数範囲(低周波側):機材の1/fノイズ・スペクトルから設定すること。 (b)測定周波数範囲(高周波側):機材の浮遊容量から設定すること。 (c)検波モードを適切なものに:私が使ったスペアナにはNOISEというファンクション・キーが付いていた。マニュアルに書いてあるのでは。 (d)単位を nV/√Hz表示に切り替える:dBmだと分解能を考慮してnV/√Hzに変換しなければならないため、大変面倒なことに。 (e)分解能:帯域を十分狭くすること。測定時間が凄く延びます。 (f)ターゲット周波数を設定し、その周りの狭い範囲でスイープ:測定時間を現実的なものにするため (g)測定は多数回測定して平均値を取る:(nV^2)/Hzで平均する。 (h)0Ω測定値によりRΩの測定値を補正。 (i)測定値を測定系のゲインで補正。

soba_777
質問者

お礼

いつもご回答ありがとうざいます。 お礼が遅れて申し訳ございませんでした。 試行錯誤しながら測定をしておりました。 おかげさまで何とか熱雑音の測定ができているのではないかという段階までたどり着くことができました。 うまく測定できていなかった主な原因としては、0Hz~80MHzまでのスパンで見ていたためでした。 1MHz以下の範囲では500Ωくらいまではノイズ電力はしっかりと上昇していたのですが、スパンを80MHzで見ていたため、1MHz以下の範囲に意識が向いていませんでした。 より高周波になると分圧の影響でノイズ電力が低下するということを知らなかったので、1MHz付近で上昇している理由は1/fノイズによるものだと思い込んでおりました。 また、分布定数回路の理論から、抵抗で発生している電圧と実際にスペアナで観測される電圧の関係を求め、その関係式とスペアナでの測定値から抵抗での電圧を計算してみたところ、10MHz付近まではどの抵抗でもほぼ理論値とおりの熱雑音電圧を示しました。 ・(d)nV/√Hz表示について。 どうやら現在使用しているスペアナにはnV/√Hz表示はないようでした。 ・シールドについて。 アルミホイルを抵抗の周りや同軸ケーブルに一回巻いているだけです。 低周波のノイズはよくカットしてくれますが、50MHz以上のノイズはカットされたりされなかったりが、かなり時と場合によります。しかし、今後当面は10MHz以下の範囲で測定を行っていこうと考えておりますので、特にこれ以上のシールドは考えておりません。 親切に教えていただき大変ありがとうございました。 実験を進めていく上で大変参考にさせていただきました。 心から感謝しております。

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