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- candle2007
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簡単にいうと、「２端子法では配線抵抗や接触抵抗を含んだ測定値になってしまう」のに対し、４端子法は「これらの値が消去され、精度の良い測定値が得られる」ということです。 図1.1を見てください。 （長いので二つに分けて記載します。検索するときはつなげて検索してください） http://www.hioki.co.jp/jp/tech/guide/electro/3541UGJ2- 56M.pdf#search='%EF%BC%94%E7%AB%AF%E5%AD%90%E6%B3%95' [資料概説]（余計なことかもしれませんが(-_-;)） 抵抗値測定のためには「定電流源から電流を流し、降下電圧を測定する」という方法をとりますが、この２端子法では、配線抵抗（接触抵抗を含む）を含めた測定値になってしまいます。 図1.2は４端子法ですが、この方法だと、（大電流が流れる)r1,r2の影響は受けず、（極めて小電流の）r3,r4の影響だけになってしまう・・・つまり「精度の良い測定ができる」ということです。 （説明を極めて簡略化しています。理解できないところがありましたら、補足質問してください） [参考]・・・（３つの資料のうち「最もわかりやすい」と思われた資料をレスしていただけると今後の参考になります） http://www16.ocn.ne.jp/~lepton/research/5/5_1.html http://neotechlab.or.tp/CurrentSensor3.htm [蛇足] こういう質問は、ただ「おねがいします」と書くのでなく、題名を見ただけでおよその質問内容がわかるようなタイトルにされたほうが、良い回答が入るチャンスが多いと思います。 わたしもこの質問を見たとき、「エ！何の４端子法？」と一瞬思いました。(^_^;) [蛇足２] 上記の長いURLは、検索欄に直接貼り付けてつなごうとすると、うまく行きません。 一度テキストボックス上でつないでから、まとめて検索欄に貼り付けるほうが良いと思います。 （分割したのは、このサイトが[120文字以上のURLを禁止]しているためです。ご了承いただきたく）
