ES-10000Gで高さが違うスキャンの仕方

質問

実装基板をES-10000Gでスキャンし、検査で使用したいのですが、
チップ部品とか、ＬＳＩ、ＢＧＡだけなら良いのですが、ソケットやコネクタ等１cm以上高さのある部品があれば、高い方にピントがあい、チップ部品等の低い部品のピントがぼやけてしまいます。
カメラだと焦点距離を選べれますが、ガラス面から離れたところにピントを合わせることは出来るのでしょうか？

エプソンに問い合わせしようにも、中古で買ったものでして、ユーザ登録等していないので、質問していません。

分かりにくい内容ですが、よろしくお願いします。

画像を添付します。

回答No.3

nijjin · ベストアンサー

おそらく上空から撮影するタイプでないと無理です。
NOVAC Simply Scan A3 Ver.2.0
http://www.novac.co.jp/products/hardware/nv-capture/nv-ps501u/index.html

お礼

回答ありがとうございます。

補足

今は無理ですが、紹介されているスキャナ検討しようと思います。

回答No.2

Hoyat

>ガラス面から離れたところにピントを合わせることは出来るのでしょうか？

出来ません。
平面原稿を効率よく読む為だけに作っているのがスキャナーですので、お考えの用途には用途には全く向きません。
デジカメで撮るしか方法はありません。

お礼

回答ありがとうございます。

回答No.1

hirama_24

しょーがないです。

方法はありませんよ、ガラス面でしかピントが合わないんだから
ＣＣＤスキャナなので１ｃｍぐらいの余裕はありますが

こーいう時はデジカメで撮影しましょう

お礼

回答ありがとうございます。