- ベストアンサー
FETの電極としてアルミが使われることがあるようなのですが、このときシ
- みんなの回答 (2)
- 専門家の回答
質問者が選んだベストアンサー
使われることがあるどころか、少し前まではSi LSIの電極や配線にはアルミを使うのが当たり前でした。 金などの重い金属はSiに対して深い準位を作るので抵抗率が上がりますが、アルミは浅い準位しか作らず、導電率が高く、金などよりも安価だからです。 もちろん、Si内に拡散すればp型となります。 だからプロセス上は、余計な部分にAlが拡散しないよう、ことのほか気を使います。 (基板ばかりでなく装置内にもアルミのイオンや微粒子を付着させない、配線の下は絶縁膜を厚くして、アルミ蒸着後は高温処理をしない、など。) 尚、AlとSiを接触させただけでは、仕事関数の差によりショットキー接合となりますが、逆にオーミック接合としたいときは、熱処理によりAlを拡散させ合金化して、ショットキー障壁を崩します。 p型層に対しては、よりp型ドーパント濃度が高くなるので好都合です。 n型層に対しては、Siの場合どうするか知りませんが、一般にn型層との仕事関数の差は小さいので、障壁を崩すだけで充分です。 場合によっては、n型ドーパントを混ぜた電極材料と合金化するかもしれません。
その他の回答 (1)
- semikuma
- ベストアンサー率62% (156/251)
ごめんなさいね。私も古い人間なので。 多くの教科書にも書いてあるように、大昔はSiの電極にも平気で金属を拡散させていたはずですが、近年のナノオーダーの時代に、金属を何ミクロンも拡散させるわけには行きませんね。 例えばGaAsでは、p型/n型に関わらず、Ti(チタン)などの拡散しにくく深い順位を作らないバリア金属を挟んで、電極を形成することがよくありました。 Siでも同様に、タングステン、チタン、コバルト、ニッケルなどが使われているようです。 http://www.toshiba.co.jp/tech/review/2004/08/59_08pdf/a02.pdf
お礼
やはり拡散するので、何らかの対策をとってきたわけですね。 疑問が解決しスッキリです。 お付き合い頂きありがとうございました。
関連するQ&A
- MOS-FETの動作について
FETには、nチャネル、pチャネルのシリコン半導体が使われていて、それぞれの多数キャリアは、電子、ホールですが、なぜそこに少数キャリアが存在するのですか? わざわざ少数キャリアの不純物をドープしているということですか? FETのゲート電圧によって、少数キャリアがクーロン力によって、電極直下の基板上に集まり、 チャネルを形成しますが、この時なぜ少数キャリアを利用するのでしょうか? 多数キャリアの方が、より大きなチャネルが形成され、伝導度が上がると思うのですが。
- 締切済み
- 電気・電子工学
- 犠牲電極によるシリコンシール材のはがれについて
シリコンコーキング(シリコンガンで打つタイプ)のはがれで困っています。ご存知の方いらっしゃいましたら、教えていただきたいのですが。 <状況> 別件でシリコンはがれで困ったことがあり、以下のような再現実験を行いました。 ステンレスの板にシリコンコーキングを塗り、完全に固まって接着するまで待ちます。この板にアルミ板を取り付けます。このままだとアルミが接触腐食(電食)するので、同じ板に亜鉛の犠牲電極を取り付けました。この状態で塩水に漬けたところ、ものの数時間で板に接着していたシリコンコーキングが完全にはがれてしまいました。板には何も残らず、シリコンの固まりがきれいにはがれてしまいます。通常は、固まって貼り付いたコーキング材は簡単にははがせず、はがすには削り取るものだと認識しています。また、単に板に塗って塩水に漬けただけではビクともしません。これには何かしら電気的な影響があるのでしょうか? よろしくお願いいたします。
- 締切済み
- 化学
- アルミ溶接について
「Φ100、厚み50㎜アルミ」と「Φ300、厚み20㎜アルミ」の部材があり、機械的にΦ300とΦ100の芯と面を合わせ、アルミを回転させて全周隅肉溶接をします。電極については、φ150程度の銅電極部があり、この面とΦ100のアルミを面接触させて電極を取っています。 しかし、φ100のアルミ面にわずかに塗料がのってしまう場合があります。 その際、銅電極とアルミ面の間でスパークします。 原理として、塗料部の電気抵抗が高く、塗料が発火することによりスパークするという考え方が正しいのでしょうか? スパークする原因を知りたいので、どなたかご教授頂けると幸いです。
- ベストアンサー
- 溶接・組立技術
- 【電気】FETって何ですか?
【電気】FETって何ですか? 引用 PチャンネルFETとNチャンネルFETの並列接続。 両FETのボデイダイオード(寄生)の存在に要注意です。 6オームを含む回路機能などが分れば、別の回路でもっと大きい抵抗で出来る可能性があるかも知れません。 引用文をもっとわかりやすく説明してください。
- ベストアンサー
- 電気・電子工学
- FETの異物
会社でサージ試験おこなったところ、ヒートシンクに取りつけられたFETの付 近に白い金属の異物が付いているのを確認しました。 又ヒートシンクにスポット溶接のような丸く黒い跡がみられました。 考えられるのはFETのリードかヒートシンクのバリかどうかと考えてます。 これのどちらか追求する為に以下のアドバイス頂けませんでしょうか。 ★サージ試験条件 ・製品は定格入力・負荷で起動 ・サージ電圧は三角波で2000Vを印加 ★ヒートシンクの材質:アルミ(メッキなし) ★半田の作業はしていないので、半田の可能性はありません 質問1~FETのリードの材質は一般的に何が使われていますか。 質問2~FETのリードの材質又はアルミで切粉形状の物にに2000Vを印加を した場合、スポット溶接したみたいになるのでしょうか。 以上。アドバイスお願い致します
- ベストアンサー
- その他(FA・自動化)
- FETの異常な発熱について
ラジコンのFETを大容量のFETにしようと、元の回路をまねてHブリッジを構成してモーターをドライブしているのですが、どうもFETの定格電流より低い3A程度で異常にNチャンネルFETが発熱します。PチャンネルFETはほぼ発熱もなく良好です。信号はもとのFETの足からとっています。FETはNチャンネルがμPA2753GR、PチャンネルがFDS4935です。接続はそのまま信号線と電源と出力をつないだだけで抵抗などは一切入れていません。原因と解決策がわかる方、どうぞよろしくお願いします。
- 締切済み
- 科学
- 参照電極を2本使ったらどうなりますか?
例えばAg/AgClとSCE2本を参照電極用のクリップに接続して溶液につけて CVなどを測定するとどうなるのでしょうか? 電位がオシレーションして全く測定できなくなるのか、 2つの電極の溶液に対する接触面積の比をそれぞれの電極電位に重みづけした値になるのでしょうか? 何となく気になりました。 よろしくお願い致します。
- ベストアンサー
- 化学
お礼
回答ありがとうございます。 稚拙な質問文から、まさに望んでいた回答を得られました。 n型層に対して非常に関心があります。 n型層にAlを接触させ、オーミック接合とするための熱処理(400℃程度でしょうか)を施した際にシリコン中に拡散が起これば、本来n型であってほしい領域がp型に変化してしまうのではないか、ということです。 頂いた回答を鑑みると、そのあたりの熱処理は非常にシビアであり、上記のような状況が起こりうると考えてよいのでしょうか。