LSI設計について

質問

LSIのテスト設計についての質問です。
STUMPS型のロジックBISTとスキャンテスト法の違いを説明してください。
また、コアの入力端子が200本、そのコアを使用するSoCの端子数が150本の時、コア分離テスト手法としてダイレクトアクセス方式、テストバス方式、バウンダリスキャン方式のうち、どれが一番適当か教えてください（テスト時間の問題は無視します）。
よろしくお願いします。

回答No.1

bakeratta · ベストアンサー

ん～、そのテストで求められていることによって、異なると思いますよ。
AC特性、DC特性だとかまで求めるのであれば、ロジカルな試験を重ねても、アナログスペックが満たさない場合もありますし。。

一番有効だったのは、通常動作の圧縮シーケンスを組んだものに、不足分としてのバウンダリースキャンだったけどな。　セミバウンダリーと称していました。
そうすると、フルバウンダリーよりも、テスト用セルのオーバーヘッドも少なくてすんだし。（製品だったので、セルオーバーヘッドは、単価に響くので、要チェック項目でした。　セル使用率が高いとレイアウトに依存するアナログスペックも下がりますし。）

（そんなに沢山のテスト回路を比較はしてないけど。）
あくまでも、参考程度になるかどうかの昔話ですけど。

お礼

ありがとうございました。