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光の干渉(ヘテロダイン干渉法)についての質問です。

ヘテロダイン干渉法について、次の図と同時にいくつかの設問が与えられています。 (1)ヘテロダイン干渉法を用いて計測する理由は? (2)干渉信号@光検出器 は? (3)信号処理機(オシロスコープ)に、干渉信号はどのように観測されるか? (4)変位はどのように観測されるか? (1)よく目にする「マイケルソン干渉計の原理図」と違って、2つの波長の異なる光を使用している   点がカギだと考えたのですが、2つの波長の異なる光を使用するメリットが良く解りません。   ネットで調べてみると「ビート」という言葉を目にするのですが… (2)問題を出した教官は「強度分布」というワードを補足していました (3)横軸を時間軸にして…という補足をしていました 以上です。 私の質問も設問そのものも分かりずらいと思いますが、 回答よろしくお願いします。

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回答No.1

うーん、式を立てて検証する元気が無いので、一般論だけ。 光へテロダインは光ビートを観測するので、光の 周波数の変化を低周波信号で(といっても数十MHzとかで)で 観測でききるので、2波長の光周波数の相対的な変化を精密に 計測できます。しかも観測対象がビート周波数付近だけよいので ノイズに強いです。 これを利用して、例えば光のドップラーシフトを 計れば、ものの速度等を精密測定できます。

yanananana
質問者

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回答ありがとうございます!!!

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