X線回折 平行光学系

質問

1度くらいで入射して2θを変化させる測定らしいのですが、どうして回折が測定できるのかわかりません。
入射角度がθの場合には、理解できるのですが・・・

回答No.1

kenojisan

それは、おそらく「薄膜Ｘ線回折法」と言う手法ではないでしょうか。
入射Ｘ線の角度を浅くして試料の表面感度を高くし、下地基板に対する試料の回折相対強度を稼ぐ手法です。
この手法では、試料は配向性のない多結晶である必要があります。微細結晶がその結晶方位をランダムに分布させているので、入射Ｘ線－デティクターの２θ角に対して、その中間のθ角方向に結晶面を向けた微細結晶が常に一定量存在することになり、通常のθ－2θ測定と同じ配置が実現するのです。