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X線反射率法(XRR)はなぜフィルムの密度がわかるのですか？
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専門ではないので、原理的な説明は出来ませんが、参考までに。 Ｘ線反射率測定のデータチャートからは以下のようなデータを読み取る事ができます。 振動周期→膜厚 減衰勾配→表面ラフネス 臨界角→密度。 全反射領域から減衰が始まる角度を臨界角と言いますが、この臨界角は物質の組成と密度によって決まります、物質の組成が解っていれば密度が求まる事になります。 色々調べましたら、こののサイトが見つかりましたので参考に。 ご質問が、どうして密度が変わると臨界角が変わるのか、の物理的な説明でしたら回答になっていませんが。
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