X線解析詳しい方へ

質問

いま大学の授業でエックス線を結晶にぶつけ散乱させ、その像をフィルムに写す実験をしている（背面ラウエ法）のですが、得られた写真から結晶の種類を特定しなければなりません。しかしながら本来必要とされるスペクトルが機器の故障のため得られず散乱角度や格子定数は不明の状態です。唯一得られているのは添付の写真のみです。これから結晶の種類を特定することは可能なのでしょうか？もしくは何か他に得られることはあるのでしょうか？
回答お願いします。ちなみにラウエプログラムというアプリケーションが与えられており、これは特定の情報（格子定数、結晶面の法線ベクトル等）を入力するとそれに基づいてフィルムに映し出されるであろう像が得られるプログラムです。

回答No.1

wata717 · ベストアンサー

背面ラウエ法で必要とする情報はカメラ長のみです。（格子定数、結晶面の法線ベクトル等は必要ありません。）そして得られる情報は結晶系：面心立方格子、体心立方格子、六方格子、正方格子等の対称性の高い格子のどれかを指定することのみです。昔はプログラムもまったく使用せず解析して決定しました。古い本には解析方法が書かれていますので一度は挑戦しておくべきです。

お礼

ありがとうございました。固体物理に関する知識も増えました。

回答No.2

MsLily

解析の仕方は「カリティX線回折要論」という本がおすすめだと思います。ラウエ写真の解析に必要なグレニンガーチャートや角度の表も載っています。私はこれを読んで解析しました。

お礼

ありがとうございますした。無事問題解決しました。