測定・分析

こんにちは Paが分かっていますが静圧回復係数の求め方と その理論値の数式がわかりません。 どなたか教えていただけないでしょうか。よろしくお願いします。

JIS B 7420の付表14「IT7用限界ゲージおよび基準円盤の寸法許容差並びに幾何公差」では通り側に摩耗限界寸法の許容差があります。この摩耗シロが基準となる寸法は何でしょうか。 例えばφ10H7の場合、下の寸法許容差10.0008から摩耗限界寸法許容差0.0015を引くのか、あるいはφ10であれば10.0000から引くのでしょうか。 ご教示のほど、よろしくお願いします。

エアー流量測定と露点計によるエアー温度・湿度計測を実施していますが 流体力学に疎く基礎的な事かもしれませんがいくつかご教授頂きたいです。 測定地点は2次側（出口付近）で以下環境です（単数処理しています） 元圧0.7Mpa　1次側流量600l/min　 測定地点流量520l/min　測定地点エアー温度20度 測定地点エアー湿度50％　外気温度23度 配管径10mm　 (1)エアー温度による流量の変化ですが エアー温度が10度や30度に変化するとそこそこの流量変化はありますか？ (2)エアー湿度による流量の変化はありますか？ 外気温度が23度のままとしてエアー湿度が30％や70％では変化がありますか？ (3)1次側の流量より2次側が低く出ており エアー漏れ以外で流量損失がある原因はありますでしょうか。 エアー漏れが無ければ　入ってくる量＝出る流量　との認識は間違いですか？ (4)別の検証で出口の径を小さして流量測定したところ、1次側流量が少なくなるのですが 出口から出れる量に限界があるので、押し戻され1次側流量が低くなるという認識でよろしいでしょうか？

購入をしたPH測定器の校正としてpH6.86、pH4.01,pH9.18が付属をしていましたが、いくつか質問です。(1)校正する理由は機械の数値が頻繁にずれるからでしょうか？(2)YouTubeで動画をみたのですが、pH6.86とpH4.01の2つだけを校正しており、pH9.18「こちらはさらに精度を上げたいのなら」という言い方をされていました。 お聞きしたいのは使用するのは1種類だけでは精度調整には足りないのでしょうか？また2種類だけでいいのでしょか？かならず使用するのはどれでしょか？どうぞ教えてください。宜しくお願いいたします。

ガラスって透明ですよね。 薄いガラスならなおさらです。 薄膜だったらもっと透明です。 そんなガラスの吸収率を測る方法はあるのでしょうか？ 吸収率なんて0.1％以下とか、そういうオーダーだと思います。 反射率や透過率はいくらでも世の中にデータがありますが 吸収率は目にすることが極めて少ない気がします。 厚いガラスで測るというのは抜きで。 エリプソとかかな？

貯槽に入っている液体をガスクロで定量分析しています。 JIS K0114には「二重測定が義務付けられている場合は，同一試料を同時に最低 2 点以上採取測定する必要がある。」とありますが、 （1）1回試料をサンプル容器に抜き取り分析を行い、続けて同じサンプル容器に再び試料を抜き取り分析を行う 方法を行なっています。これで正しいのでしょうか。 もちろん、貯槽はサンプル容器に比べ十分大きく、1回の分析は30分ほど、十分共洗いしてから抜き取っております。 もしこれでは駄目ならば、 （2）同時に2つのサンプル容器にそれぞれ試料を取り、分析する ではいけませんでしょうか。現状では、1回抜き取った試料で2回分析するのは難しい状況です。 できましたら根拠となる資料などありましたらご提示願えませんでしょうか。

【REACH規則のSVHC(高懸念物質）についてのppm の計算方法を教えて頂きたいです。 SVHC含有量 2000g SVHC含有している成形品の質量　20000g 含有量　ppm ？ よろしくお願いします。

Φ14（+0.04,+0.02）穴のピンゲージにる検査について 加工としてはΦ14.02で加工後、手加工による磨き工程があります。 Φ14.02のピンゲージが通り、Φ14.04のピンゲージは通らなかったため、合格と判定しましたが、客先から穴が大きいとのクレームが入りました。 問い合わせるとΦ14.04のピンゲージが貫通はしないが、2～3mm程度入るため、 NG判定としたとのことでした。 ピンゲージ検査の上限値判定として、 全く入らないものがOK、少しでも入ったらNGなのでしょうか？ ピンゲージ検査の判定基準を詳しく教えていただけると助かります。 よろしくお願いします。

加工予定のネジ寸法に対して、社内に標準ネジゲージしか無かったためガタ無くしっくり嵌まるように加工を行いましたが、客先の検査担当者から限界ネジゲージの通りが通らないと指摘されました。 私としては 　　標準ネジゲージ＝ネジの規格値の中央値で作られている 　　限界ネジゲージ＝ネジ規格の上限と下限で作られている との認識だったため、標準ネジゲージしか無かったためガタ無くしっくり嵌まるように加工を行えば、限界ネジゲージによる検査も合格するものと思ってました。 何が問題だったのでしょうか？ ご教授ねがいます。

至急助けて下さい。 ダンパーのケーシング(SS)の内寸を600×200、客先からはJISの範囲の公差ならOKと指示されてます。 ですが、「JIS 公差」で調べると沢山ありすぎて どれをみたらいいのかわかりませんでした。 私は全くの設計に関して素人です。 客先にどのJISですか？と質問してといいのかとか 、どう質問したらいいのかもわかりません。 もしくはどのJISの公差を使ったらいいかわかる方いらっしゃいますか？ 助けてくださいお願いします。

似たような不具合のご経験のある方に、どんな対策をされているか、お聞きしたく思います。 金属加工業で検査をしているものです。 先日、旋盤加工者の図面の寸法線の読み間違いで、厚みが3ミリも違う品物ができてしまいました。 原因は寸法線の読み間違いで、本人は思い込んでいるため、自身のダブルチェックでは気がつくこともできず、品物が流れ、完成検査にて発見されました。 このような思い込みによるものは、本人では発見できず、他者が品物を測定しないと見つけられないと思いましたが、社員の負荷状況的に、そのような工程を設ける余裕はなさそうです。 本人が見つけられるために、何か良い対策はないものか、悩んでいます。 なにか良いアドバイスなどありましたら、是非お話をお聞きしたいです。 よろしくお願いします。

現在、研究において高圧環境(最大1MPa)における土の挙動を研究しているものです。 現在やりたいこととしては、圧力容器内にカメラを入れ三次元計測を行いたいと考えております。素人質問で恐縮ですが、ハウジングなどを使わずに直接カメラ固定し、計測することは可能でしょうか？ また、一般的に電子回路は圧力に対してどれぐらいの耐性があるものなのでしょうか？ よろしくお願いいたします。

M3ネジゲージを三針ユニットで校正して、有効径を計算したいのですが、 ネジゲージのねじ山角度が調べても分かりませんでした。 何か一覧表のようなものがあれば教えてください。

共にエネルギー分散型の場合についてなのですが、両者の測定方法が異なっているようで、 SEMでは電子線、蛍光X線装置ではX線を検査体に当てるようですが、 特性X線を測定するという点は同じようです。 当てるビームが異なることで、軽元素や重元素の測定にはどちらが良いといったことがあるらしいですが、これはなぜでしょうか？また。その他どういった違いがあるのでしょうか？ ご教授の程お願いします。

蛍光は時間経過とともに減少すると考えられますか？ 蛍光を用いての定量を行いたいのですが、時間経過による変化が見られるように考えられます。これは定量にかなり影響すると思います。 この日の蛍光強度と 後日の蛍光強度(恒温槽など保存しており何も手は加えてないとする) は多少測定誤差は含むとしてもそのままを保てますか？ それとも蛍光測定時の光照射の影響を受け、 減少は避けられないでしょうか。 蛍光についての知識があまりないので詳しくお願い致します。

製造業初心者です。 マシニングを担当しています。 てこ式ダイヤルゲージ付のハイトゲージで穴の開いた製品を 測定することがあります。 製品の穴中心からの高さを測る際に、穴に丸棒を入れた製品をｖブロックに置き、 その丸棒の頂点からの距離から丸棒（穴）の半径を引いた距離を出すのですが、 その丸棒の正式名称は何というのでしょうか？

油の酸化について考えています。 不飽和の脂肪酸とかが酸化するのは分かります。 では、飽和炭化水素など(オクタデカンなど)の鉱物油系は 空気中に放置しておくと酸化が起こるのでしょうか 理由も含めて教えてください！

成形機からトリガー信号として無電圧接点信号を取り出し、圧力アンプと接続するのですが、接点がONの間、圧力アンプ側に24Vを印加させ続ける必要があります。端子台で接続では継続印加できないので、オムロン社製のリレー(MY4N-D2)で接続したいのですが、 1-14のどの端子に、成形機からの（P）(N）・圧力アンプの（P)・（N)をつなげれば良いかわかりません。たぶんその他24V電源の（P)・（N)もつなげなければならないと思いますがわかりません。ちなみに温度アンプは、無電圧接点信号でOKなので、端子台経由で接続し、リセットがかかるようになっています。成形の現場仕事が長く、電気の知識にうとく、ネットでいろいろ調べましたが、限界を感じました。よろしくお願いいたします。

◆背景 円柱において、「底面の円」と「円柱の中心軸」の直角度を 三次元測定機を用いて測定したいです。尚、「底面の円」がデータム(基準)です。 測定方法としては (1)まず、「底面の円」にスタイラスを3点当てて平面を定義し、データムをとります。 (2)次に、「円柱の中心軸」を算出するため、円柱におけるA点およびB点において、 それぞれスタイラスを3点当てて、A点およびB点における円の中心点が求め、その中心点を結めば「円柱の中心軸」が算出できると思います。 ◆ご質問 今回、「円柱の中心軸」が評価対象なので、 A点およびB点における円の中心点の距離が直角度に影響してきます。 しかしながら、 A点およびB点における円の中心点の位置(円柱長手方向Lに対する位置)の 決まり方がわかっていません。 例えばA点にてスタイラスを3点当てる際、 円柱長手方向Lに対するスタイラスを当てる3点の位置がバラバラの時、A点における円の中心点の位置(円柱長手方向Lに対する位置)は どのようにして求まるのでしょうか。 三次元測定機を理解できておらず、 ご回答の程よろしくお願いします。

教えてください。 正規分布していない or 世紀分布しているか怪しい状態で、試験の成績などのばらつきを偏差値で表すことに、意義はあるでしょうか？ 正規分布でなければ偏差値が使えないのではなく，正規分布でなければ例えば「偏差値40～60が全体の約68%をカバーする」などと言えないだけだ、と書かれたwebページを見て、確かにそうだと思いました。 では、たとえば正規分布しているか怪しい状態、たとえば50人程度の少数の塾で模擬試験を行い、成績を偏差値で表したします。 その偏差値には「塾の講師として指導するための実務的な意味で」あっても、意味はない、と考えるべきでしょうか？ 「50人という少人数の試験結果だから偏差値自体に誤差のようなものがあるが、生徒の学力を大まかに把握して、指導方針を立てる」というような使い方をしても良いものでしょうか？