【半導体素子】アナログCMOSのデバイス測定項目

質問

【半導体素子】アナログCMOSのデバイス測定項目について教えてください。

通常のCMOSですと、VthやIds、Cut-offや各種電流、耐圧等を測定すると思います。
アナログ回路で使うCMOSの場合ですと、測定項目はどのようなものがあり、
またその内容について、
詳細（どういう現象を見ているか）等教えて頂けないでしょうか？

よろしくお願いいたします。

回答No.2

ohkawa3 · ベストアンサー

回答(1)再出
OP-AMPであれば、次のような項目でしょう。
OP-AMPのデータシートを参照して下さい。

最大定格項目：
・電源電圧定格
・消費電力定格（温度ディレ-ティング特性）
・出力電流定格（温度ディレ-ティング特性）
・温度定格　　　　　
・はんだ付け条件　　　　　　など

特性項目：
・ゲイン及び位相回転（の周波数特性）
・同相除去比（の周波数特性）
・オフセット電圧（の温度特性）
・バイアス電流（の温度特性）
・入力換算ノイズ電圧（ノイズ電流）（の周波数特性）
・スルーレート
・電源変動の除去比（の周波数特性）
・消費電力（又は消費電流）　　　　　など

参考URL：

http://www.tij.co.jp/jp/lit/ds/jajsbe5/jajsbe5.pdf

お礼

ご丁寧に解説ありがとうございます。
大変勉強になりました。

回答No.1

ohkawa3

「アナログCMOSのデバイス」とのお問い合わせですが、CMOSプロセスで作られるデバイスにも多くの種類があると思います。想定なさっているCMOSデバイスは、どのように呼ばれている種類でしょうか？
・オペアンプのようなデバイス
・CMOSイメージセンサーのようなデバイス

お礼

ご丁寧に解説ありがとうございます。
大変勉強になりました。

補足

・オペアンプのようなデバイスの方が近いと思います。よろしくお願いします。