インダクタ測定での接触子の問題と解決方法
- インダクタ（コイル）の計測で接続端子にフラックスが付着し、接触不良が生じてしまう問題があります。
- 板状の端子ではフラックスが破れずに汚れるため、コンタクトプローブを使用するとピン位置精度が低下し、フラックスが付着して接触不良が発生します。
- 保守容易で手間のかからない接触子とその方法についてアドバイスをお願いします。
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インダクタ測定の接触子について
インダクタ（コイル）の計測で困っています。 インダクタンス、直流抵抗を計測してますが、接続端子にフラックスが付着し 接触不良になってしまいます。 板状の端子ではフラックスが破れず、汚れてしまい、コンタクトプローブではインダクタのピン位置精度がよくなく、また先端にフラックスが付着して接触不良になってしまいます。 保守容易に手間無く接触できるもの、また方法のアドバイスを御願いします
- 測定・分析
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計測とのことですが、テスターでコイルにプローブを当てて測定している・・という話ではなく、ＩＣＴあるいはピン当て治具などを使用した専用チェッカーでの計測、と解釈して良いですね。 その前提で話をするとして、「板状の端子」というのはどのようなものでしょう？ また、「インダクタのピン位置精度がよくなく」という意味もよくわかりません。リード付のコイルなのでしょうか、表面実装タイプのコイルなのでしょうか？ どのような実装形態か、計測方法が何かによって変わってきます。 ディップはんだ付けで、なおかつ鉛フリーはんだであれば、フラックスの汚れによる接触不良は従来と比べ物にならないくらい深刻だと思います。共晶の時のフラックスの固形分はせいぜい多くても7-8%程度だと思いますが、鉛フリー用と称するものは平気で固形分15%とかになってます。フラックス残渣が多くて当たり前なので、 ・コンタクトプローブを当てる位置を工夫する ・ワークや接触部分の形状に合わせてコンタクトプローブの先端形状を評価する そのほかにはスクリューのように回転しながらフラックスを突き破るタイプのプローブを使用したりすることもあります。
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