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EPMAにおける元素濃度とは
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電子線照射範囲の各原子が、そこにある数の分だけ特性X線を出すわけですから、基本的にはモルで考えていいとおもいます。 ただ、ご存じだと思いますが、実際にX線検出器でとらえられる特性X線強度は、試料中でX線の吸収効果などの相互作用を起こした後の強度であるため、単純に特性X線強度比を濃度比と解釈することができません。そのため、ソフトウェアは各元素の相対強度に対してZAF補正などおこなって濃度を表示しています。
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回答ありがとうございます。 基本的にモルなのですね。 ZAF補正のことは何となくですが存じております。 X線強度比＝濃度比とは単純にいかないのですね。 勉強になりました。