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X線回折について
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X回折の本を読めば書いてありますが，ホームページだと http://www.nsg-ntr.com/DATA/data1.htm がわかりやすそうです。 極点測定は特定の結晶面が向いている方向分布調べる手法です。 測定方法としては，測定試料を少しずつ傾けて，通常のθ-2θ測定を行い， 全方位の回折データから解析します。
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- wata717
- ベストアンサー率44% (72/161)
薄膜については次の著書を参照して下さい． 合志監修：Ｘ線分析最前線(1998)アグネ技術センター ISBN4-900041-63-7 C3043
お礼
回答ありがとうございます。参考にさせていただきます。
- chiezo2005
- ベストアンサー率41% (634/1537)
測定した基板はなんでしょうか？ ガラスのような方向性のない材料の場合には面内方向には対称性から同じになるのが自明なので全方向調べる必要はないと思います。 X線回折の参考書ですが、目的によってだいぶ違うと思います。 詳しく知りたいのであれば、 http://www.amazon.co.jp/gp/product/4785324023 などがよいと思います。 もう少し応用的な側面であれば http://bookweb.kinokuniya.co.jp/htm/4254145942.html などはどうでしょう・・
お礼
回答ありがとうございます。測定した基板は、Si基板だったと思います。Si基板だとまた変わってくるのでしょうか？試料は有機物だったから、有機薄膜ということですね。 参考書は、さっそく学校の図書館で探してみようと思います。
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