GDOESとAES又はXPSの違い
- オージェ電子分光法（AES）やX線光電子分光法（XPS）は皮膜の深さ方向の元素分布を測定するために使用されていますが、最近ではグロー放電発光分光分析（GDOES）でも同様な測定が可能です。
- AESやXPSと比べて、GDOESの皮膜の深さ方向の元素分布測定の精度や制約にはどのような違いがあるかは分かっていません。
- 亜鉛メッキ上のクロメート皮膜の深さ方向の元素分布を測定する場合、どの分析方法が最も適しているかは不明です。また、測定機器の価格の違いもわかりません。
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GDOESとAES又はXPSの違い
めっきや、クロメートなどの防錆被膜の深さ方向の元素分布を測定する際に、通常オージェ電子分光法（AES）やX線光電子分光法（XPS）などがよく知られていますが、最近グロー放電発光分光分析（GDOES）でも同様な測定が出来ることを知りました。機器の原理等は書籍で調べたのでおおむね分かるのですが、AESやXPSと比べ皮膜の深さ方向の元素分布を測定するに当たり、精度や制約にどのような違いがあるのかが分かりません。 仮に、亜鉛メッキ上のクロメート皮膜の深さ方向の元素分布を測定した場合、最も適しているのはどの分析方法なのでしょうか？ また、上記の測定機器の価格の違いはどの程度なのでしょうか？ 分かる範囲で結構ですので、ご教授いただければ幸いです。 宜しくお願い致します。
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専門家でないので詳しくは知りませんが、参考になりそうな、マップがありましたので。 表面分析で深さ方向に調べる場合は、掘る」手法が重要なような気がします。
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お礼
ありがとうございます。 非常に貴重な情報でした。