Cp Cpkの両側規格、片側規格の定義とは？
- CpとCpkは品質管理で使われる指標です。公差上限値、下限値と測定値から計算できます。一方、片側規格とは何でしょうか？両側規格との違いも知りたいです。
- CpkとCpは似たような指標ですが、異なる意味を持ちます。Cpkはプロセスの中心から何σ離れているかを表す指標であり、Cpは公差幅とプロセスの変動幅を比較する指標です。片側規格はどのように定義されるのでしょうか？
- 片側規格とは、上限値または下限値のいずれか一方に公差が存在する場合の規格です。具体的には、公差+0.05または公差-0.05のように、一方の方向にだけ公差が考慮されます。一方、両側規格では公差が上限値と下限値の両方に存在し、公差の幅が考慮されます。
- ベストアンサー
Cp Cｐkの両側規格、片側規格の定義について
品質管理の勉強を始めたばかりで悩んでいます。 エクセルでCpとCpkは公差上限値、下限値と測定値の入力ですぐ計算できるように作って活用しています。 同僚から、Cｐｋと片側規格 (Cpk=（上限値－Xバー)／３σ)は 同じではないか？と質問され答えに困ってしまいました。 Cp、Cpk及び片側規格の計算方法は説明し納得はしてもらいましたが、調べていると片側規格の定義があいまいでわかりません。～以上、～以下と書いてある文献はありました。 公差±０.０５なら両側規格となります。公差＋０．０５では片側規格となると思いますが、公差－０、＋０．０５では両側規格、片側規格のどちらになるのでしょうか？ 初心者で解らない事ばかりです。 回答をよろしくお願いいたします。
- その他（FA・自動化）
- 回答数1
- ありがとう数1
- みんなの回答 （1）
- 専門家の回答
質問者が選んだベストアンサー
- ベストアンサー
単純に・・・ 公差－０、＋０．０５は上限規格と下限規格の両方があるので両側規格。 ＜片側規格の例＞ 保持力１００Ｎ以上は片側規格。
関連するQ&A
- Cpkからの不良率予測について
標記の件についてご教示頂きたく。 ?Cpk（両側公差）から不良率を求める場合、Cp・k(偏り）によって 求まる不良率って異なりますか？ 上下限から外れる確率が各々求められると思われるので、そうすると 変わるような気がするのですが。 ?Cpk＞1.33という要求があります。 上記?にて変わるという理解で合っているとします。 プレスによる穴抜きなんですが、摩耗を考慮してなるべく公差 上限付近に初期設定したく。 4σだと不良率は 6.3*10^-5程度と思います。これはk=0、Cp=1.33の場合の不良率と考えるのですが。 Cpk=1.33⇒不良確率：6.3*10^-5と解釈、プレス抜きのように比較的バラツキを抑えられるものならXbarを上限寄りにもってって、Cpkが1.33より少し小さくても計算上は同じ不良確率にできる、と思うのですが。 間違っていますでしょうか？ ?ちなみに客先要求は片側公差でも両側公差でもCp,Cpk＞1.33です。 Cpkと片側公差のCpでは不良確率が異なると思います。 Cp、Cpkという数字がほしいのであれば別ですが、どのくらいの 不良確率というのがほしいのであれば、Cpkと片側公差Cpの要求は 異なって良いと思うのですが。一般的にはどうなのでしょうか？ 例えば片側公差Cp=1.32というだけで文句というか、言われます。
- 締切済み
- その他（品質管理）
- CpとCpkの計算方法
ExcelでCpとCpkの計算の式を作りたいのですが、どのようにすればいいでしょう。上限規格値は0.8、平均は0.746、標準偏差は0.008です。工程のことは全く知らないのでお願いします。
- ベストアンサー
- 数学・算数
- 表面粗さ・幾何公差に対するCp値とは？
前回の幾何公差のときは大変お世話になりました。 さて遅ればせながら最近Cp、Cpkに関する勉強をし始めております。 素朴な疑問なのですが、表面粗さや幾何公差に対するCp値管理って成り立つのでしょうか？ 仮想データを用いて、面粗度や幾何公差のCp値シミュレーションをしていたのですが 片側規格（上限規格）での計算をした時に、数値的には決して悪くないのに Cp値としては何気に低い場合がありました。 面粗度も幾何公差も数値的に小さいほど良いわけですが いろんなパターンで仮想データをばらつかせてみると 見た目のデータは良さそうなのにCp値は低い・・・。 何かよくわからなくなってきました。 乱筆乱文で恐縮ですが、皆様のご見解をお聞かせいただけませんか？ よろしくお願い致します。
- 締切済み
- その他（品質管理）
- 工程能力の両側規格CPKについて
工程能力の両側規格CPKについて、教えてください。 CPK=(1-K){（SU-SL)/6σ} K＝{（SU+SL)/2-平均}/（SU-SL)/2 この計算式で {（SU+SL)/2-平均} 交差規格中心－平均値にて 例えば 基準寸法10 交差幅±0.2 平均値 10.1 の場合 計算すると -0.1になり K=-0.02になると思いますが、ここで K は絶対値になり K=0.02で 後の計算をするのでしょうか かなり、簡略しましたが宜しくお願いいたします。
- ベストアンサー
- その他（品質管理）
- Cpkを考慮した公差の積み上げ
部品Eが部品A、B、C、Dの積み重ねの場合、 Cpだけ考えると公差積み上げは、√（3σa）^2+（3σb）^2+（3σc）^2+（3σd)^2 となりますが、Cpkを考慮した公差の積み上げはどのようにしたらよいでしょうか？ 設計初心者です。 Cp、Cpkの算出法と、公差の積み上げ方法を具体的にご教授いただけますでしょうか。 具体的な寸法は以下です。 ・部品A：1.2 ±0.4の規格に対し、平均1.23、σ0.09 ・部品B：3.0 ±0.7の規格に対し、平均2.9、σ0.15 ・部品C：2.0 ＋0.2/-0.1の規格に対し、平均2.05、σ0.02 ・部品D：1.5 ＋0.1/-0.15の規格に対し、平均1.52、σ0.03 ＜補足＞ Cpだけ考えると寸法は、(1.23+2.9+2.05+1.52)±√（3*0.09）^2+（3*0.15）^2+（3*0.02）^2+（3*0.03)^2 となりますが、実際の工程能力を考えた場合（Cpkを考えた場合）、公差はもっと大きくなると思います。 Cpkを計算式にいれた設計方法があるらしいのですが、どのように計算すればよろしいですか？
- ベストアンサー
- 製品設計
- CpとCpkが異なる部品の組み合わせ
工程能力CpやCpkの違いが十分理解出来ていないレベルなのですが、個々が違う部品を組み合わせた場合を考える必要があります。 具体的には、 Ａの部品は長さaで規格幅±0.4mm、Cp=1.33,Cpk=1.33 Ｂの部品は長さbで規格幅±0.5mm、Cp=1.66,Cpk=1.33（ばらつきの中心は＋公差側） このとき、ＡとＢをつなげたｃ寸法（c=a+b）はどの範囲に入っているかを考えています。 一つ一つの部品だけを考えれば何となくイメージ出来そうなのですが、２つが組み合わさるとお手上げ状態です。 考え方ご指導頂けないでしょうか。よろしくお願い致します。
- ベストアンサー
- 数学・算数
- CpとCpkの差について
私の理解が間違えていたら正してください。 とある工程で、Cp=5、Cpk=4という結果が出ました。 数字だけ見るとかなり良いですし、実際に規格外の製品が出来上がる可能性は限りなくゼロに近いと思います。しかしながら、確率分布曲線を描いてみると、狙い値通りの製品が出来上がる確率も1%に満たない、となりました。 さらに、この工程がCp=6、Cpk=4と移行した場合、バラツキは狭まった代わりに平均値が狙い値から離れ、狙い値通りの製品が出来上がる確率はほぼゼロとなりました。 規格外の製品を作らないという点では問題ないと思いますが、狙い値どおりの製品を作るという視線から考えると、こういうトレンド(Cpkが変わらずCpの値が上昇する)はあまり好ましくないと思うのですが、考え方は合っているでしょうか。 そもそも、確率分布曲線のXY軸の意味を良く理解していないかも知れません。 『X軸は狙い値をセンターとして、実際の値、Y軸はX軸のそれぞれの出来上がり寸法での発生率』と理解しています。 例えば上限値＝3σであれば、上限ギリギリの製品が出来上がる確率は0.13%。
- ベストアンサー
- 数学・算数
- 上限値基準の工程能力指数算出について
図面の基準値が公差の中央値狙いではなく上限値になってます。 その為実際の実測データも上限値寄りになってしまい、工程能力指数cpkの計算式に当てはめると、低い数値になってしまいます。 イメージ 基準値10.0 公差+0、-0.5 実測値max10.0、min9.8、平均9.93 実測は基準値付近になっているので状態はいいと思いますが、上記だと上限値10.0下限値9.5なので中央値9.75に対しては偏りがありcpkが低くなってしまいます。 設計者の意図はあくまで上限値狙いであり、製造側もそれに答えて上限値寄りに製作できているのですが、その工程能力を数字でどのように表せばいいのか困っております。 工程能力としては非常に高いと思っています。 もしかしたら片側規格と考えcpで算出すべきなのかもしれませんが、それだと10±0.25の設定だった場合より半分の実力値になるのでは？と疑問にも思っています。 アドバイス頂けると幸いです。
- ベストアンサー
- 測定・分析
- 工程能力指数（CP）についての質問です
工程能力指数（CP）についての質問です CP値を判断する基準として 下記の条件がある事は認識していますが Cp＜1.00 量産不可能 1.00＜Cp＜1.33 改善必要 1.33＜Cp＜1.67 量産可能 1.67＜Cp 検査規格の変更 この条件は ３σを前提とした条件でしょうか Cp値の公式は Ｃｐ＝（規格上限値－規格下限値）／６σ ６σ＝±３σ ですが Ｃｐ＝（規格上限値－規格下限値）／４σ ４σ＝±２σ で計算する事は可能でしょうか 仮に可能であった場合 ２σや４σでCP値を求めると 上記の条件の数値は変わってくるのでしょうか わかりにくい質問ですが 回答をお願いします
- ベストアンサー
- 数学・算数
お礼
有り難うございました。 単純に考えると良かったんですね。 R3以下は-0～R3と考えて両側規格でいいんですね！ すっきりしました。