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コンタクトプローブの接触不良
- 小型リレー製造設備の保守保全を行っています。コンタクトプローブの接触不良問題が発生しており、抵抗値のバラつきや導通不良が起こっています。
- 端子先端の接触面積が少ないため、リレーの端子側面を挟み込む構造のプローブが理想です。
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- コンタクトプローブの接触不良 ＞ 真説
［No.44375 原題］ リレーの端子（φ１mm L=6mm程度）にコンタクトプローブを接触 させてリレー接点やコイル抵抗を測定する自動機があるのですが 抵抗値のバラつきが多かったり端子先端にシール材等の異物が 付着していたりして導通がなかったりと問題が起こっています。 私の理想は端子先端では接触面積が少ないため、端子側面を挟み込む 構造のプローブがあればと思うのですが・・・ 端子（リード線）の先端に対向してプローブを当てる場合、先端はフラットのほうがよく、尖ったものでは位置が定まらず却って不安定です。 端子先端の状況の影響あるが、 ＞端子先端にシール材等の異物が付着 一旦不良で刎ねる方がよいのでは。それを拭うなどして再検査。 ＞端子側面を挟み込む構造のプローブがあれば 好ましいことは確かながら、前記先端対向より測定圧が低くならざるをえない。 反対側を支えればよいが市販のプローブには無いので自作せねばなりません。 もうひとつ重要なのがプローブの選び方。 基板検査用プローブは数十円と安く極細径もあるが、基板の導通がチェックできれば事足れりで、接触抵抗をウルサク問うには別に適したものあり。 ?一般的な基板用 はスリーブの内部にコイルバネを内蔵するが、導通は ピン→スリーブ でなくコイルバネを介してしまう確率があり、ピン→スリーブ の接触でも安定性に欠ける。 ?がその対策例でコイルバネが外なのと取出リード線がピンに直結。その分外径は大。 ?は?と同じコイルバネ内蔵ながら“レジスタンス・スタビライザー”なるボールを入れ、導通経路と接触抵抗を安定化し高周波測定に向くとするもの。＜他社製プローブとの比較データ＞ この類として高周波デバイス測定、パワー素子測定など低接触抵抗の要求に対応するものは各種あり、いずれも?とは桁違いな価格になるが、遙かに需要が少ないから許容せざるを得ません。 本件に係る質問がある方は、此処に（回答として）書き込まれたなら可能な限り対応します。 ↓元質問に続き、何でもかんでも洗いたがりのアライグマ一匹が凶暴に喚きたてるので遠ざけます。 ?一般的な基板用 ?コイルバネ外 リード線直結 ?コイルバネ内＋ボール入 微細素子、パワー素子用プローブ 精研・治具を含め提案 http://www.n-denshin.co.jp/idi/images/page/14_ict_l100/ictl100.gif http://sankei-engineering.com/jirei/case_trouble_3 http://imcth.co.jp/probes/ https://www.hisol.jp/new/wp-content/uploads/2014/09/hiosl-prober.pdf http://www.seiken.co.jp/item/?id=1357285490-836420
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