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コンタクトプローブの接触不良
- 小型リレー製造設備の保守保全を行っています。コンタクトプローブの接触不良問題が発生しており、抵抗値のバラつきや導通不良が起こっています。
- 端子先端の接触面積が少ないため、リレーの端子側面を挟み込む構造のプローブが理想です。
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小生はミスミ製で設計をしております。 世界中で、入手が容易が理由で、客先にも好評です。 他の回答者さんも記載していますが、カタログ内容を一度確認してみてください。 また、小型リレー製造設備の環境も考慮が必要です。 受け入れ洗浄や簡易クリーンルーム作業が検査工程だけではなく、全工程が主流になりつつ あります。 検査工程は、エアパージだけでも受け入れ洗浄し、簡易クリーンルーム化しては如何ですか？ ↓ 簡易ユニットのフィルターを上部に設置 ┏━━━━━━━━━━┓ ┃ ＳＳ－ＭＡＣ ┃↓ アルミプレームで枠組み ┏━━━┻━━━━━━━━━━┻━━━┓ |┃┏━━━━━━━━━━━━━━━━┓┃| |┃┃ ↓↓↓↓↓↓↓↓↓↓ ┃┃| ← 静電性の透明 |┃┃ ↓↓↓↓↓↓↓↓↓↓↓↓ ┃┃| 樹脂シートで |┃┃ ↓↓↓↓↓↓↓↓↓↓↓↓↓↓ ┃┃| 上部と四方を |┃┃↓↓↓↓↓↓↓↓↓↓↓↓↓↓↓↓┃┃| 覆う |┃┃ ┃┃| |┃┃↓↓↓↓↓↓↓↓↓↓↓↓↓↓↓↓┃┃| |┃┃ ┃┃| |┃┃↓↓↓↓↓↓↓↓↓↓↓↓↓↓↓↓┃┃| |┃┃ ┃┃| |┃┃↓↓↓↓↓↓↓↓↓↓↓↓↓↓↓↓┃┃| |┃┃ ┃┃| |┃┃↓↓↓↓↓↓↓↓↓↓↓↓↓↓↓↓┃┃| 下を少し明けて |┃┃ ┃┃| ダウンフローを |┃┃↓↓↓↓↓↓↓↓↓↓↓↓↓↓↓↓┃┃| 逃がすスペース |┃┃ ┃┃| ← 確保代とする ←┃┃←←←↓↓↓↓ ↓↓↓↓→→→┃┃→ ←┗┛←←←↓ ↓→→→┗┛→ ━━━━━┻━━━━━━━━━━━━━━━━━┻━━━━━
お礼
ミスミのコンタクトプローブは入手しやすいですね。 製造環境はそこそこ（パーティクルカウンターで１万程度？） 良い方だと思ってますが、クリーン化を検討してみます。
色んなコンタクトプローブが有りますが全部試してダメだったの？ http://jp.misumi-ec.com/vona2/maker/misumi/mech/M0500000000/M0502000000/ http://test-probe.jp/product/normal_probes/p-068_mm_p-068-a_mm_a20_a_a40_f_g.html http://test-probe.jp/product/fine_pitch_probes/p-016_center_pitch_025mm.html http://test-probe.jp/product/turn_probes/tp-072.html http://www.n-denshin.co.jp/denshin_nd050.html http://www.organtec.co.jp/product10.html http://www.kita-mfg.com/products.html ＞私の理想は端子先端では接触面積が少ないため、端子側面を挟み込む 接触面積を極小にして食い込ませるのが定石なのだが？ それなりにキズは付くけど
お礼
ご指摘のコンタクトプローブはすべて在庫品にあり過去から実験を 繰り返してきた様です。 接触面積は小さい方が良いようですね。
＞接触面積が少ないため 接触面積が少ないことは、必ずしも不利な条件ではありません。 プローブが端子を押す力が一定であれば、面積が広いほど接触圧力が低下 するので、接触の確実性が低下する可能性があります。 リレーの端子の表面に、多少の傷が許されるならば、針状のプローブを 選択して、接触圧力を上げ、リレーの端子の表面の酸化膜などを突き破る ような条件を選定する方が良い結果が得られそうに思います。 端子側面を挟み込む構造のプローブも選択肢の一つと思います。この場合 単に端面を挟むのではなく、挟み込み構造の接点にリレーの端子を滑り込 ませるようにして、ワイピイングアクションで、リレーの端子の表面の酸 化膜などの影響を避けて接触を良好にする方法がいいと思います。 いずれの方法でも、リレーの端子の表面に多少の傷がつくことになります。 上記の接触を確実にする方法とは別に、コイル抵抗を測るために、所定の 電流を流すためのプローブと、流した電流による電圧降下を測る電圧測定 のプローブとを分ける方法があります。リレー端子一つ当たり、2本のプロ ーブを接触させます。抵抗を測るには、リレー端子2点にプローブを接触 させるので、4本のプローブを使う方法で、「4端子法」と呼び、信頼性の 高い測定をするための常套手段です。 いずれにしても、シール材等の異物が挟まった場合には、正しく測定できま せんから、正しく測定できる場合のバラツキを小さく管理して、異常値を きちんとリジェクトできるシステムを構築することが肝要と思います。
お礼
ご回答ありがとうございます。 接触面積が小さい方が良いと聞きかなければ間違った認識のままでした。 言われてみればそうですね！！ この分野に入って未だ日が浅く、知らない事ばかりですが、４端子法での 測定をしているのを確認しました。
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