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XRDの2θ/θ法について教えてください。
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X線を試料水平方向に対してθの角度で入射させ、 試料から反射して出てくるX線のうち、 入射X線に対して2θの角度のX線を検出し、 θに対するその強度変化を調べる手法。 （入射X線源は固定して、試料をθ動かし、検出器を2θ動かす） このとき、θを細かく変えて（例えば20°から70°）その強度変化を調べると、Bragg条件 2d sin(θ) = nλ （λはX線の波長、dは結晶の原子面間隔。nは整数) を満たすときにX線強度が強まるので、Braggの式から面間隔がわかり、最終的には試料の結晶構造がわかります。 詳しくは専門書をご覧ください。例えば カリティ著「X線回折要論」（アグネ） はわかりやすい気がします。
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