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顕微鏡について
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現在大学3年のものです。 授業の一環で、好きな試料を顕微鏡で観察するということをしました。その際に原子間力顕微鏡（AFM）と共焦点レーザ顕微鏡（OLS）を使用して同じ試料を観察をしたのですが、表面粗さなどに違いがでました。 このように差がでた原因は分解能の違いによるものなのでしょうか？そのほかにも何か原因と考えられることがありましたら教えていただけないでしょうか。 よろしくお願いいたします。
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顕微鏡について調べています。 図解雑学「ナノテクノロジー」という本で、説明を読んだのですが、 私自身が文系の専攻だということもあり、理解ができません。 私が理解をしたいと思っているのは、 「大体どういった原理の顕微鏡なのか」ということです。 それが解説してあるのですが、専門用語の壁に阻まれて困っています。 たとえば、AFMについての説明は以下のとおりです。 「カンチレバーと呼ばれる板バネの先についた探針をプローブとして用い、プローブと試料表面間に働く原子間力を検出する。原子間力を物理量として、この力が一定になるように圧電素子を用いて探針と試料間の距離を自動調整し、試料表面に沿って探針を走査することで、資料表面の凹凸を測定する。そして、圧電素子に加えた制御電圧を記録・画像化することでAFMの画像が得られる。」 こういう説明ではなく、直感的でも良いので、素人にも分かる説明はないものかと思いました。たとえば、「モノとモノの間には、反発しあう力が実は働いている。それは磁石のN極同士の反発を思い浮かべていれば、今のところはそれでよろしい。それで、”原子間力”を感じ取る針で、「特殊な針」が、観察したいものの表面をなぞるように走らせる。針が感じ取った原子間力のデータをコンピューターに送信して、画像ができあがり。」 ・・・まあ、多くの間違いはあるのでしょうが、 こういった説明を、それぞれの顕微鏡について、いただければ、とても助かるなと思い、ここに投稿させていただきます。 どうぞ、よろしくお願いいたします。 ◇透過型電子顕微鏡（TEM） ◇走査型電子顕微鏡（SEM） ◇走査型トンネル顕微鏡（STM） ◇近接場光学電子顕微鏡（SNOM） ◇原子間力顕微鏡（AFM）
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