• 締切済み
※ ChatGPTを利用し、要約された質問です(原文:SEMの表面観察)

SEMの表面観察について

noname#230359の回答

noname#230359
noname#230359
回答No.5

#2です。 >これは2次電子のはね返りが多いほど白く写り お察しの通り二次電子の強度の強いものほど白く見えます。 >原子番号が大きいほど2次電子の跳ね返り が多いという予想でよろしいでしょうか? 二次電子の強度は原子番号だけに依存している訳ではないため(他の要因、たとえば化合物の伝導率等にも依存するため)必ずしも白く見えるところが原子番号が大きいということにはなりません。

関連するQ&A

  • 植物の表面構造の観察

    私は○○大学大学院工学研究科の材料系修士課程の者です。 最近、興味でさまざまな植物の表面構造をSEMで観察したいと思い、ためしにバラの花びらの表面構造を観察しようと試みました。 手順としては、バラの花びらをアセトン→超純粋で洗浄後、オーブン80度で2時間乾燥させて、導電性を高めるために、金パラジウム蒸着をしてSEM用試料としました。 実際に観察を行ったところ、表面構造がきれいに見えず、筋のようなものが走っている様子しか伺えなかったのですが、これは植物を観察用試料にする際に手順が正しくなかったということなのでしょうか? どのような手順を踏めば、きれいなSEM像が得られるかわからないので質問させていただきました。 よろしくお願いします。

  • 組織観察のための上手な研磨方法

    400倍の光学顕微鏡で組織観察するために試料を研磨機で磨いています. 試料はTi-Ni合金で樹脂埋めしてます. 研磨機は卓上型で,手で行っています. 研磨紙で240番,400番,800番,1000番と研磨を行って 最後にダイアモンドペーストで仕上げてます. どうしてもキズが消えません. 1000番の次に1500か2000番ほどの研磨紙を使用したほうがいいのでしょうか? 手で研磨を行う際のコツ的なものをお教えください. 研磨に関して初心者です。 研磨機の回転のスピードが速いから、回転の力に負けて平面が出ないのかもしれません・・・ 研磨機の回転スピードや垂らす水の量など、研磨を上手くこなすためのことなら教えて頂ければ幸いです。

  • 元素分析(EPMA,PIXE,LA-ICP-MS)

    元素分析法である,EPMA,PIXE,LA-ICP-MSについて,それぞれの長所と短所を教えてください. 現在,固体試料の分析にEPMAを使っていますが,下記のような課題が残っています. (1)PIXEやLA-ICP-MSを使った研究よりも,検出される元素が少ない(微量な元素を検出できない). (2)真空中で分析を行うため,試料が割れてしまいます. (3)凹凸のある試料を分析したいがEPMAはそのような分析に向かない 以上の課題をPIXEやLA-ICP-MSで解決することは可能でしょうか? いろいろ調べてはみたのですが,物理や化学分野の内容もあり,実際どのような試料処理や操作を行うのかがわからず,それぞれの長所・短所をつかめません. 理想としては,試料を処理する必要がなく(研磨などの必要なし),固形試料をそのまま真空中にさらすことなく,モニターで確認しながらμ単位の部位選んでを分析できる方法です. 実際,PIXEやLA-ICP-MSを使っている方,詳しい方がいらっしゃれば教えてください. よろしくお願いします.

  • SEMの二次電子検出器のシンチレータについて

    こんにちは。 SEMについて色々と調べている者なのですが、観察試料から出てくる二次電子を検出する二次電子検出器(またはE-T検出器)のシンチレータ部前面に塗布されている蛍光物質はどんな材料なのかをご教示してもらいたく、質問させてもらいました。 幾分、ネットで色々と調べているのですがそこまで詳しく載っているサイトはなかったので、もしご存知の方がいらっしゃればと存じます。 ご教示の程、宜しくお願いします。

  • 電子顕微鏡の試料に蒸着

    すごく基本的な質問かもしれませんが、試料を蒸着すると画像が鮮明に見えてくるということは理解できるのですが、蒸着によってその蒸着したものが元素分析に影響を与えないのですか?蒸着している場合の元素分析は信頼できるのでしょうか。

  • 低倍SEM画像のゆがみとEDXの適正倍率について。

    低倍SEM画像のゆがみとEDXの適正倍率について。 SEMで数十倍の低倍で観察した時に、モニタ上で画像の周辺部がゆがんで見えますが、 これはどのような原因で起きているのでしょうか?(試料は磁性体、絶縁物系ではありません。) また、EDXで3000倍(5000倍だったかもしれません・・)以上で元素分析を行おうと すると、この倍率で本当によいですか?のようなポップアップウインドウがでてきますが、 EDX使用の際に適正な倍率があるのでしょうか? 以前数十倍の倍率でマッピングをしたら、何も表示されない(真っ黒)な場所がありました。 その部分を数百倍でマッピングしたらきちんと表示されました。 適正な倍率等があれば、教えて頂ければと思います。 宜しくお願い致します。

  • 分析機器について

    ・蛍光X線 ・X線回折 ・ガスクロ ・液クロ 以上の分析機器を使うと,分析した試料の何がわかるのかを簡潔に教えていただけませんか? 装置の原理やしくみ等の回答ではありません。 「試料を構成する元素がわかる」「濃度がわかる」といった,簡潔な説明をお願いします。

  • 走査型電子顕微鏡 (SEM) についての質問です。

    走査型電子顕微鏡 (SEM) についての質問です。 大学の研究室で、SEMを用いて、 Si, O, Na, Hからなる板状の粒子を観察しています。 加速電圧を低めにすると (具体的には1kVなどにすると) 板状の粒子が全体的に白っぽくなるんですが (チャージアップが原因だと思っているんですが) 板状の粒子の縁の部分のみが 暗い色をして強調されているように観察されます。 縁の部分だけ色が異なるのはなぜなのでしょうか。 また、これを防ぐ方法といったものはあるのでしょうか。 よろしくお願いいたします。

  • SEM 試料の傾きと二次電子の量

    SEMで、試料の傾斜が大きいと二次電子の量も増える、というような 説明がよくあると思います。 これについて、色々なサイトを見て勉強中です。 下記URLはKEYENCEのページですが、5ページ目(I-ii)を見ていただきますと 二次電子の傾斜角効果について載っています。 http://www.mm.kyushu-u.ac.jp/lab_02/Documents/SEM_basic.pdf 上段の3つの図について二点質問があります。 (1)水平・30度・60度の図で、それぞれ二次電子の飛び出す角度 (一次電子の矢印に対する角度)が違うのは何故か? この角度の違いには意味があるのか? (2)なぜ一次電子ビームの右側に飛び出す二次電子しか書いていないのか? 左側に飛び出す二次電子も図示すれば、水平の図と、60度の図とで 飛び出す二次電子の数は一緒になるのではないか? (水平では右に5個・左に5個/60度では右に10個・左に0個) また、試料の傾きと二次電子の量についてわかりやすく、正しく説明されている サイト等ありましたら、教えていただけるとありがたいです。 よろしくお願いいたします。

  • 樹脂埋包研磨について

    多層基板の品質管理を担当しています。 基板の厚み測定や、ビアホール状態の出荷検査目的で、多数のサンプルを効率良く断面研磨(寸法測定および出来栄え状態の確認)できる方法を検討しています。 現状 ・観察試料をはさみでカット ・埋め込みカップに両面テープで立てて固定 ・レジン注入&脱泡&自然硬化 ・分析用の手動研磨機で研磨 1日に試料が50~100個程度あり、これを一気にさばきたいと考えています。 課題 ・試料を平行に立てるのに苦労 ・狙う場所を特定するのに苦労 ・加工が手作業なので苦労 主に、断面分析用の試料研磨で情報を調べていますが、 さらに合理的に進めたいため、委託加工業者などでの荒研磨、 仕上げ研磨加工などを含めて、装置、工法、ベンダーを探しています。 最終仕上げ前の前処理だけでも、合理化できればかなり楽になります。