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電気特性測定用コンタクトプローブ会社の探し方
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初めて投稿させていただきます。 現在使用している、コンタクトプローブの性能評価を行いたいと 考えています。主に高周波特性（何GHｚまで測定できるのか） および接触抵抗の測定がしたいです。カタログや仕様にも掲載はされてい ますが、いまひとつ確証がありません。 コンタクトプローブの性能評価はみなさんどのようにされているのでしょう か？ シグナルジェネレータ、オシロ、スペアナ、デジボルは一応そろっては いますが、対応周波数は低いです（～4GHz） 必要な計測器や計測用治具基板の設計で必要になるノウハウ等 ご存知の方、おられましたら何卒御指南の程よろしくお願いします。
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コンタクトプローブを使うことになりましたが、時期的にサンプルの購入もできず 超初歩的な質問をさせていただきます。 「樹脂板にあけた穴にリセプタクルを圧入し、リセプタクルに配線をし・・・」 とありましたが Ｑ１． 樹脂板にＰＣＢ（プリント板）を重ねてリセプタクルをＰＣＢに 半田付けすることは問題があるのでしょうか？ （材質はニッケル下地金メッキ仕上げです。） Ｑ２． 「圧入する」とはφ１．３２径の場合どのくらいの穴をあけるべきでしょうか？ 抜け止めがφ１．４２となっています。 （そうすると１．３２＜穴＜１．４２の精度の穴はいわゆる板金屋さんで加工不可能の ような気がしますが。） Ｑ３． 「その後、プローブを圧入して・・・」 とありましたが プローブが破損した場合はプローブを抜いて交換できるのでしょうか？ 抜けるものならば使用中に抜けてくることはないのでしょうか？ Ｑ４． ネットで取り付け加工例を探したのですがありませんでした。 ご存知ならば紹介してください。
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テスターと被検査ＰＣＢの接続をハンドプレスで上下して コンタクトプローブで開閉している装置があります。 使用場所は海外で改造のために船便で約３ヶ月をかけて戻ってきました。 （送り返す直前まで問題なく使用していたそうです。） そこでコンタクトプローブの接触抵抗が増大してほとんど使用できない というトラブルに遭遇しました。 プレスを経由して低抵抗を測定してみると ａ．自社に在庫していたプレスで測定すると３７Ω ｂ．戻りのプレスで測定すると６００Ω でした。 装置においてプローブは通電しているだけで電流の開閉はしていません。 電流の開閉はテスターがしています。 問題は １．何故こうなったのか？ ２．どのようにして直すのか？ ということになりますが・・・。 私の推測ではプローブが直接電流を開閉していないので酸化皮膜が できたのではないか？また、そんな環境をへてもどったのではないか？ と思っています。 強引な理由付けとは思いますが、それしか思いつかないといったところ です。 修理方法については １．プローブを交換する。 ただし上記の私の推測が正しければ 代理店の倉庫に売れずに何年も眠っていたような製品を買わされて しまえば同じ不安になってしまいます。 ２．接点復活剤をスプレーする。 しかし使用した経験者によるとスプレーしたあとネバネバした感じ が残るそうで、あまり使いたくありません。 それよりも本当に正常にもどるかが問題ですが。 ご教授をお願いします。
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あるオシロスコープを使っての実験で、疑問が沸いた点があったので、質問します。 実験の流れ ・発振器に対して直列に抵抗（100kΩ）つなぎ、正弦波を入力。 ・オシロスコープのCH1入力コネクタにつながれたプローブをその抵抗に接続。 ・次に、CH2にもプローブをつなぎ、CH1につながれたプローブと同じく、抵抗の両端につなぐ。 ・コンデンサ（300pF）を回路に直列に挿入し、CH2のプローブは抵抗とコンデンサの両方にかかる電圧を測定する。 ・CH2の出力電圧を8Vppにした場合のCH1の出力電圧とCH1の出力波形からのCH2の出力波形の位相の遅れ、の二つの値の周波数特性を測定する。 この実験において、プローブを「10×」に設定しろと言われたのですが、なぜプローブを「10×」に設定するのかが分かりません。 どうか、分かる人がいたら教えて下さい。
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ご質問させていただきます。 製品のノイズレベルを測定したいのですが 同じ電源ラインを、”電圧プローブ”で測定するのと、 ”電流プローブ”で測定することに何か差というか それぞれのメリットはあるのでしょうか。 文献を読むと、電流プローブのほうがメリットが多い気がするのですが、 周波数的に向き、不向きがあるのでしょうか。 どなたか回答いただけると幸いです。
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［No.44375 原題］ リレーの端子（φ１mm L=6mm程度）にコンタクトプローブを接触 させてリレー接点やコイル抵抗を測定する自動機があるのですが 抵抗値のバラつきが多かったり端子先端にシール材等の異物が 付着していたりして導通がなかったりと問題が起こっています。 私の理想は端子先端では接触面積が少ないため、端子側面を挟み込む 構造のプローブがあればと思うのですが・・・ 端子（リード線）の先端に対向してプローブを当てる場合、先端はフラットのほうがよく、尖ったものでは位置が定まらず却って不安定です。 端子先端の状況の影響あるが、 ＞端子先端にシール材等の異物が付着 一旦不良で刎ねる方がよいのでは。それを拭うなどして再検査。 ＞端子側面を挟み込む構造のプローブがあれば 好ましいことは確かながら、前記先端対向より測定圧が低くならざるをえない。 反対側を支えればよいが市販のプローブには無いので自作せねばなりません。 もうひとつ重要なのがプローブの選び方。 基板検査用プローブは数十円と安く極細径もあるが、基板の導通がチェックできれば事足れりで、接触抵抗をウルサク問うには別に適したものあり。 ?一般的な基板用 はスリーブの内部にコイルバネを内蔵するが、導通は ピン→スリーブ でなくコイルバネを介してしまう確率があり、ピン→スリーブ の接触でも安定性に欠ける。 ?がその対策例でコイルバネが外なのと取出リード線がピンに直結。その分外径は大。 ?は?と同じコイルバネ内蔵ながら“レジスタンス・スタビライザー”なるボールを入れ、導通経路と接触抵抗を安定化し高周波測定に向くとするもの。＜他社製プローブとの比較データ＞ この類として高周波デバイス測定、パワー素子測定など低接触抵抗の要求に対応するものは各種あり、いずれも?とは桁違いな価格になるが、遙かに需要が少ないから許容せざるを得ません。 本件に係る質問がある方は、此処に（回答として）書き込まれたなら可能な限り対応します。 ↓元質問に続き、何でもかんでも洗いたがりのアライグマ一匹が凶暴に喚きたてるので遠ざけます。 ?一般的な基板用 ?コイルバネ外 リード線直結 ?コイルバネ内＋ボール入 微細素子、パワー素子用プローブ 精研・治具を含め提案 http://www.n-denshin.co.jp/idi/images/page/14_ict_l100/ictl100.gif http://sankei-engineering.com/jirei/case_trouble_3 http://imcth.co.jp/probes/ https://www.hisol.jp/new/wp-content/uploads/2014/09/hiosl-prober.pdf http://www.seiken.co.jp/item/?id=1357285490-836420
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