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Ag/Agめっきの膜厚測定について

いつもお世話になっております。 めっきの膜厚測定について質問があります。 弊社では洋白、および銀素材に銀めっきの処理を行っており、その 膜厚測定に電解式の膜厚測定器を使用しています。洋白については 問題なく測定できるのですが、銀素材ではどうも結果が安定せず 悩んでいます。 銀素材に銀めっきをするケースは少ないかと思いますが、あるいは 電気的に近い素材にめっきを処理する場合の膜厚測定になにか良い 対処は無いでしょうか。 よろしくお願い致します。

noname#230358
noname#230358

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noname#230359
noname#230359

母材と皮膜が同じであれば、蛍光X線膜厚計で測定することは不可能です。X線を照射して跳ね返ってくる特性X線のエネルギーから材質を、強度から質量を判断し、膜厚を計算で出しています。銀素材に銀めっきなら特性X線のエネルギーが同じですので、膜厚を計ることは残念ながらできません。 クマ吉さんがおっしゃる断面観察も、同素材だとめっきと素材の境界が分からないのではないかと下名は思うのですが・・・。

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noname#230359
noname#230359

素材とめっきが同じとなると、断面測定ですね。 JISに規定されています。 あるいは、平均膜厚になりますがめっきの重さを面積で割って膜厚に換算する。 銀ではない素材をダミーとしてめっきして、それの膜厚を測定する。 素材とめっきが電気的に近いと、電解式では原理的に困難です。

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質問者からのお礼

アドバイス有難うございます。 電解式ではやはり原理的に難しいのですね。 ダミー素材ですが、実は銀素材の他にニッケル合金に銀メッキも行って おりまして、そちらでは電解式で安定して測定できています。ただ 素材が異なると条件と結果も異なるようで、実際にどうなっているのが 知りたいと思っております。 断面測定については早速調べてみます。ただ結構コストがかかるようなので 難しいのかなと感じましたが、検討してみます。 重さで換算は思いつきませんでした。小さい部品が多いので、一度大きめの もので測定できないか検討したいと思います。 また、県内の試験場で蛍光X線膜厚計が借りれることがわかりましたので、 それも試してみようと思っております。 今後またアドバイスいただくことありましたら、よろしくお願い致します。

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