FT-IR分析で調査できる内容
- FT-IR分析を活用して不良成型品と良品成型品の違いを調査することは可能か
- FT-IR分析器は含有量の違いを波形の山の高さで明らかにすることができるのか
- 同じ物質の山の高さで、AはBに比べて％Xの分子量が少ないことがわかるのか
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FT-IR分析で調査できる内容
FT-IR分析を行い、不良成型品（ABS/PCアロイ）と良品成型品（ABS/PCアロイ）の違いを調査しようと考えております。 FT-IR分析器はA,B,Sの詳細な含有を計測できるものですが、波形の山の高さで含有量の違いを明らかにすることが可能か、ご教授お願い致します。 この良品/不良品は材料も加工工程も同じのはずですが、不良品は成型品の一部が割れやすい状態になっており、割れやすい部分で比較を行いたいと考えております。 宜しくお願い致します。 Xという同じ物質の山の高さで、「AはBに比べて**％Xの分子量が少ない」ということはわかるものでしょうか？ 申し訳ありません。上記は「分子量」ではなく「含有量」についてです。
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単にピーク高さの比較からでは何％含有量云々は言えないと思います。 それをやるには予め組成比Ａ：Ｂの比率を（３０：７０）、（５０：５０）、 （７０：３０）と言うふうに変えて作った材料のピーク高さを求めてからで ないと定量は困難だと思います。
FT-IRで組成比を比較しようとすると、望ましくは故意に組成比を変えた サンプルが必要になります。 ただ単に良品と不良品の比較だけならＡ成分の主ピークとＢ成分の主ピークの 高さ比較で違いの有無はわかるでしょう。 でも、どの位の違いがあるのかを知ろうと思えば故意に組成比を変えたサンプルを作製して検量線を引いて求めることになります。
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お礼
ありがとうございます。大変助かりました。できましたら追記した部分への回答もお願い致します。