X線回折装置について
- X線回折装置についての基本的な事項として、ブラッグ条件によってX線回折が起き、ピークが検出されることがあげられます。
- 反射X線同士の干渉によって強めあった結果、X線強度のピークが現れます。しかし、これは回折ではなく、干渉が起きることが原因です。
- ピークの位置や本数は物質によって異なります。ピークの数が多い場合、ブラッグ条件を満たす角度の数が多いことを意味します。物質によってピークの数が異なる傾向も存在します。
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X線回折装置について
基本的な事だと思いますがいくつかお尋ねしたいことがあります。 θ-2θ測定などのX線回折によってピークが現れるのは、添付した図のようにブラッグ条件2d sinθ=nλにしたがって光路差が波長の整数倍になるときの角度θで検出されるX線強度が急激に増えるからですが、しかしこれは反射X線同士が干渉して強めあったのであって回折とは言わないのではないでしょうか。 またピークの位置・ピークの本数は物質ごとに異なりますが、ピークの本数が多いというのはブラッグ条件を満たす次数nの数が多いという意味ですか？そしてどういう物質(単結晶・多結晶・化合物・高分子.etc)だとピークの数が多くなる等の傾向などはあるのでしょうか。
- thefish
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だって、直進してくる以外の方向でも干渉光が観測できているのだから、回折して直進方向とは別方向に放出されてくる「回折」が起きているのは当たり前ですよ。 「回折」して角度を変えられたものの中で、特定の角度のものしか、「干渉で強めあって観測できない」というだけで。
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- shintaro-2
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>しかしこれは反射X線同士が干渉して強めあったのであって回折とは言わないのではないでしょうか。 それを回折と呼びます。 >またピークの位置・ピークの本数は物質ごとに異なりますが、ピークの本数が多いというのはブラッグ条件を満たす次数nの数が多いという意味ですか？ 必ずしもｎが多いとは限りません。 >そしてどういう物質(単結晶・多結晶・化合物・高分子.etc)だとピークの数が多くなる等の傾向などはあるのでしょうか。 あります。 どのような条件で発生し、ピークの強度が何を意味するのか 教科書を見ながらいろいろ考えてください。 同じ物質でも、単結晶は少なく、他結晶だと増えます。 でも、アモルファスなら基本的に出ません。 多分、基本的なことの理解が不十分な状態だと思います。
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