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抵抗測定_ブリッジ法と並列共振法の違い

高周波高インピーダンスの片面接地のDUTの出力インピーダンスを測定したいです。 シミュレーションでは出力インピーダンスが約300kΩ、並列に寄生容量が30fF程付くと予想しています。 本当にこのインピーダンス値となるか実測で確かめたいと考えています。 測定方法としてブリッジ法と並列共振法を考えています。 並列共振法の方が今回の測定に向いていると言われているのですが、違いがよくわかりません。 確かにブリッジ法の方が精確なZ1,Z2,Z3を用意するのが難しそうです。また交流なので位相も含めて検流計を精確に測定するのが難しいと考えられます。 この考え方で合っているでしょうか。 違うようでしたら理由などをお教えいただきたいです。 よろしくお願いします。

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  • 回答No.1

どちらを使っても同じです。 測定対象の値を予め想定してどれだけ近い被測定諸元部品が準備できるか、 どの程度の精度(誤差許容)で測定しようとしているのか、 が重要です。 > 出力インピーダンスが約300kΩ、並列に寄生容量が30fF程付くと予想しています。 この出力インピーダンスに含まれる容量成分と「寄生容量30fF」の関係も重要です。 「出力インピーダンスが約300kΩ」は周波数で変化しないのですか? 「寄生容量30fF」は周波数で変化するはずです…

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