オシロスコープで測定中に基板が壊れた。その原因は？

質問

オシロスコープで測定中に基板が壊れた。その原因は？

オシロスコープで波形の測定中に、接続するピンを間違えて基板を壊してしまいました。
なぜ基板が壊れたのか原因を考えてみたのですが分からなかったので、
どなたか教えていただけないでしょうか？

＜詳細＞
・測定対象
　CPLD（FROMに対するコントロール信号CS,WRを生成）⇒　FROM　の間のWR信号の波形
　※CPLD,FROM共に5V駆動、TTLレベル出力

・オシロの接続
　プローブCH1（1MΩ）
　　+側：FROMのINPUTピン(WR)
　　-側：FROMのVCCピン
　　　　※GNDに接続する所を間違えてVCCに接続
　プローブCH2（50Ω）
　　+側：CPLDのOUTPUTピン(CS)
　　-側：CPLDのGNDピン

・壊れた個所
　FROMのVCCピン（過電流が流れてパターンが焼き切れた？ような跡がある）

回答No.1

phobos

オシロ本体でのCH1の－側とCH2の－側とが導通しているか絶縁されているかご確認下さい（たぶん導通していることと思います）。

もし導通しているならば、FROMのVCCピン→プローブ１の－側→プローブ２の－側→CPLDのGNDとショート電流が流れたために、問題の個所が焼損したのではないかと思われますが、いかがでしょう。