ある部品の試験サンプル数の決定方法について

質問

よくICの信頼性試験データなどで、
熱衝撃試験　サンプル数N=52、異常判定０
高温動作試験　N=30　異常判定０
のような試験データがありますが、このサンプル数の根拠ってなんでしょうか？

ある母数（製造ロット）に対して何かしらの計算で決定されるものなのか？
試験規格MILやJISでN=○以上、と決められているものなのか？

このサンプル数決定の方法を教えてもらえますでしょうか？
カスタムでICを起こしたときに上記のような信頼性試験を実施するにあたり、何個以上のサンプルを用いることがベターなのか判らないため、相談させてもらいました。

回答No.2

chie65536（@chie65535） · ベストアンサー

ご参考。
http://okwave.jp/qa/q320122.html
http://okwave.jp/qa/q466644.html
http://ja.wikipedia.org/wiki/%E5%AE%9F%E9%A8%93%E8%A8%88%E7%94%BB%E6%B3%95

回答No.1

OMTOMC

一つ一つ測定して行って誤差が少なくなっていくから、だいたい誤差範囲が一定だなってなったときに試験は終了です