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粉末X線回折パターンのピーク位置の変化の原因が分からず困っています。
私は大学で粉末X線回折法を使って、物質に衝撃を与えることによって回折パターンがどのように変化していくかということについて調べているのですが、衝撃圧を強くすればするほどピークの位置が低角側にシフトするという現象の原因がわからず困っています。 参考書にはピーク位置は格子面間隔に関係していると書かれていたのですが、衝撃を与えることで格子面間隔が変化するものなのでしょうか? ちなみに変化量は2θ値で最大1度程度の変化がみられています。 予想でもかまいませんので回答よろしくおねがいしますm(_ _)m
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>以外には考えられないでしょうか? 資料がアルミならば、圧延をかけると回折ピークがずれます。 ASTMカード(現在の名称を忘却)で、古い改正される前の内容を追いかけて行くと、1行、「精度がない」とか(色々あるのでこの言葉ではなかったかも)書かれていて文献が載っています。これを追いかけていってください。 最低でも、昭和の初め(1920年代)までは追いかけてください。その頃ぐらいしかあるみの圧延による影響なんて調べられていませんから。 表面生成物を追いかけている場合には色々ありますが、衝撃を加えた後で、潰して粉にしてX線をかけている(測定ミスがない)ようなのではいこう性による回折ピークの移動はなし。変に結晶が揃うと、全体的にピークがいどうします(前回の回答)。圧延でも表面の結晶が変に揃う(表面が非晶質かする)とこれが起こります。バックグラウンドが乱れないのでわかり図らい化もしれません。
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- usokoku
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文字での回答は不能。 入射こうに対して、かいせつこうの絵を書いて 試料をちょっと後ろに平衡移動してみれば見当つくはず。
- usokoku
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逆に考えれば、簡単にわかるでしょう。 >ピークの位置が低角側にシフトする ばあいに、試料はどのように誤ったちょうせいを行ったのか ちょっとかいせきをやっている人(つまり、指導教官)にきけば、すぐわかるでしよう。 もっとも、指導教官をやっていたりして、、
お礼
回答ありがとうございます。 ちなみに私は指導教官でもなくまったくの解析初心者です; ピーク位置のシフトの原因は試料自体の変化ではなく試料の調整のしかたの誤りにある可能性が高いということですね! ピーク位置を低角側にシフトさせてしまうその誤った調整というのをよろしければもう少し詳しく教えていただけないでしょうか?
お礼
またまた返答していただきありがとうございますmm 見当つきました。 しかしそれ(測定ミス)以外には考えられないでしょうか? 人為的に起こるミスであれば変化はランダムに表れる思うのですが、今回の場合衝撃が強くなるにつれじょじょに変化しているのでそれとは別に原因があると思われるのですが…