X線回折での指数付け

質問

X線回折に関する質問です。
私は層状の超伝導体に関する研究を行っています。
私の試料では通常ホルダーの面に平行にc軸がそろった組織をしていますので、θ-2θによって(00l)面が観察されます。
JCPDSデータと比較すると(002), (004)・・・というピークが出ているようですが、この面が実際の結晶のどの面に対応しているのかがわかりません。
たとえば、単位胞の中にc軸に垂直に6層存在するような結晶構造の場合、(002)面というのは単位胞のちょうど真ん中にある面と考えてよいのでしょうか。
また、FCCなどと違い各層間の距離が一定でない場合は、指数付けをどのように考えれば良いのでしょうか。
（2層目を単純に2/6=1/3で(003)面と考えてよいですか？）
わかりづらい説明ですいません。
もし高温超伝導体の研究をされている方でしたら例えばYBCOを例にとって説明していただけると有り難いです。
よろしくお願い致します。

回答No.1

パんだ パンだ（@Josquin） · ベストアンサー

たとえば、002 の反射は、001 の２次反射（2dsinθ=nλでn=2）に相当します。
これは、(002)面からの反射と考えることも出来ますが、実際に(002)面に原子が存在しなくても反射が出てくる可能性があるわけです。したがって、面間距離が一定か一定でないかというのは反射の存在自体には関係ありません（もちろん、強度には関係するでしょうが）。

補足

ご回答ありがとうございました。
002, 004・・・は同一面からの回折と考えればよい点納得致しました。
一方、実際のXRDの結果、001, 003・・・のピークが現れないとしたらこれは単純に消滅則のためだと考えてよろしいでしょうか。