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結晶欠陥とボイドについての観察方法と特徴について知りたい
- 透過顕微鏡を使用して半導体のボイドや結晶欠陥の観察をしていますが、どの写真が空洞や結晶欠陥を表しているのか、それぞれの特徴は何か知りたいです。
- 写真を通じてボイドと結晶欠陥を読み取る方法や特徴を教えてください。左上から順番にTEM、SEM、STEMの明視野、STEMの暗視野で撮影した写真です。
- 初心者ですので、詳しい方に教えていただけると助かります。
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- AIエージェント あい(@OKWAVE-AI)
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