走査型近接場光学顕微鏡（SNOM）に関することですか？
「(プローブの)先がサンプルの表面に近づくにつれて、この振幅は剪断力によって弱くなります。」と書いてあります。
この方法ですと、試料とプローブの距離をある一定距離（近接場の範囲に）に保つために、プローブを試料と平行な方向に振動させ、試料表面に近づけた際の剪断力の変化を検出してプローブの位置を制御することがあります。このことについて書かれていると思います。剪断力は原子間力の一種と考えていいでしょう。
投稿日時 - 2003-06-23 21:45:17
0人が「このQ&Aが役に立った」と投票しています
